納米粒度儀的理論研究.pdf

1、本文討論了納米粒度儀的基本知識，發(fā)展現(xiàn)狀；介紹了利用光子相關光譜法測量納米尺度粒子的粒度分布的基本原理和基本實驗設施；重點討論了納米粒度儀數(shù)據(jù)處理及粒徑反求的相關理論。 納米粒度儀數(shù)據(jù)處理的相關理論和粒徑反求方法的部分又分為三個小部分： 1．單分散體系的數(shù)據(jù)處理方法。簡單討論了利用多項式擬合的方法，給出了存在噪聲情況下的計算效果。 2．多分散體系的參數(shù)搜索法。采用Rosin-Rammler分布函數(shù)來模擬納米粒子系

2、統(tǒng)的粒徑分布，這在實際中是很合理可靠的，可以大大簡化數(shù)據(jù)處理過程，縮短數(shù)據(jù)處理時間。細致討論了這種方法的誤差產(chǎn)生及解決方法。 3．任意納米粒徑分布的反求算法。從基本物理原理，基本數(shù)學思想到程序的流程等等都進行了詳細的介紹。與參數(shù)搜索法不同，所介紹的方法對被測微粒系統(tǒng)的尺寸分布不做任何假定。這種方法在理論上可以對任意分布的粒徑體系進行求解，但是實際中求解難度較大。 本文的創(chuàng)新點主要在于將所要求解的積分方程轉(zhuǎn)化為一個線性方程