定位與檢測陣列的構作及其存在性.pdf

1、隨著計算機技術的飛速發(fā)展，軟件系統變得越來越龐大，軟件測試成為保證這些系統質量的一個關鍵手段．測試時，組件之間的交互作用復雜、多變，難以預料．理論上，人們可以對所有可能的組件之間的交互作用進行逐一測試，但這在實踐上是不可行的．為盡可能少地使用測試用例來有效地檢測這些組件以及它們之間的相互作用對系統產生的影響，從而在保證測試用例集錯誤檢測能力的基礎上盡可能地降低測試成本，人們提出了基于（混合）覆蓋陣((mixcd) covcring ar

2、rays)的軟件測試(簡稱組合測試，combinatorial testing或interaction tcsting)方法．人們發(fā)現以（混合）覆蓋陣作為測試方案，可從N次試驗結果獲知k個組件（因子）中任意t個因子組合是否存在交互影響錯誤，但具體交互影響的錯誤模式不能確定．為此，2008年Colbourn和McClary引入了兩類新的陣列叫做定位陣列和檢測陣列，它們是兩類特殊類型的（混合）覆蓋陣．粗略地說，用(d，t)-定位陣列作為測試

3、方案，可以根據實驗結果確定d個強度為t的交互影響錯誤；而用(d，t)-檢測陣列作為測試方案，同時可以判別是否存在多于d個強度為t的交互影響錯誤，由此，構作測試用例集個數N盡可能地小且強度t盡可能地高的定位與檢測陣列成為當前組合設計理論和計算機科學領域研究的一個熱點，本博士論文主要研究定位與檢測陣列的構作及其存在性，這中間涉及到定位與檢測陣列的最優(yōu)性判別準則、組合特性刻畫、構作以及存在性結果．
　　 本文共有六章.前兩章主要給出了

4、本博士論文的研究背景以及相關概念和已知結果.
　　 在第三章，我們主要研究一致水平的最優(yōu)檢測陣列構作及其存在性結果，建立了一致水平的(d，t)-檢測陣列的最優(yōu)性判別準則，證明了最優(yōu)檢測陣列與一類具有超單性質的正交表的等價關系．利用這個等價關系，構造了大量的最優(yōu)檢測陣列．特別地，當υ≥3時，除了可能的例外（t，υ）∈{(2，6)，(3，6)}，最優(yōu)檢測陣列(2，t)-DTA(N,5，υ)存在，其中t=2或3．
　　 在第四

5、章，我們研究了至多兩個錯誤的最優(yōu)定位陣列．首次建立了其存在的最小下界，并且證明了達到下界的最優(yōu)定位陣列可以用具有預定性質的正交表進行等價描述．利用這個組合特性刻畫，我們給出了若干構作最優(yōu)定位陣列的方法，進而得到了兩類新的最優(yōu)定位陣列．
　　 在第五章，我們研究了k=t+2且t∈{2,3,4,5}超單正交表的構作方法，并給出了t=3，k=5的超單正交表的大部分存在性結果．
　　 在第六章，我們研究了混合水平的最優(yōu)檢測陣列構