LED芯片檢測和分選的圖像匹配的算法研究.pdf

1、基于機器視覺的自動定位是LED芯片檢測和分選中的一項重要技術。通過計算芯片模板圖像與Wafer上芯片圖像之間的位置偏置，可以獲取LED芯片電極引腳的位置坐標。在此基礎上進行芯片參數(shù)檢測，為LED芯片分選提供參數(shù)依據(jù)。本文以LED芯片的定位為研究背景，對圖像濾波、特征提取、圖像匹配等技術進行了深入的研究，主要內(nèi)容如下：
　　 本文首先分析了現(xiàn)有的圖像匹配方法，包括歸一化灰度相關方法、SSDA方法、FFT相關匹配方法、基于圖像特征的

2、匹配方法等，總結(jié)了各種算法的優(yōu)缺點，提出了基于角點特征的點模式匹配算法作為本文的匹配方案。
　　 分析了中值濾波算法的不足，提出了一種自適應中值濾波器算法，利用VC編制的程序?qū)υ肼晥D像進行濾波，結(jié)果表明自適應中值濾波器在濾除噪聲的同時可較好的保護圖像的角點特征。
　　 分析了圖像Harris和SUSAN角點特征的提取算法，對兩種算法提出了改進，利用VC編制的改進算法的程序，對LED芯片的定位標記進行角點提取，兩種算法均精