《材料現(xiàn)代分析方法》課程教學大綱

1、《材料現(xiàn)代分析方法》復試考試大綱《材料現(xiàn)代分析方法》復試考試大綱課程名稱：材料現(xiàn)代分析方法Ⅰ、考試總體要求掌握X射線衍射分析（XRD）、電子顯微分析（SEM、TEM）、紅外光譜分析（IR）及熱分析（DTA、DSC和TG）等分析方法的設備構造、工作原理、表征技術和應用。要求能夠正確選用現(xiàn)代分析技術開展材料組成、結構與性能關系的科學研究能力。Ⅱ、考試的內(nèi)容及比例1、X射線衍射分析（3040％）(1)掌握X射線物理學基礎、X射線衍射理論、X射

2、線衍射方法；(2)理解定性、定量分析原理，PDF卡片的組成；(3)掌握物相的定性、定量分析方法；(4)了解XRD的典型應用。2、掃描電鏡（2030％）(1)了解采用的分析信號，電鏡結構、成像原理及用途；(2)掌握試樣制備方法，圖像的解釋；(3)掌握電子探針的原理、結構、用途及性能比較，譜圖分析方法。3、透射電鏡（1525％）(1)了解電子與物質(zhì)作用信號，透射電鏡結構及成像原理；(2)掌握薄膜及復型試樣制備方法；(3)掌握選區(qū)電子衍射及衍

3、射花樣的分析。4、熱分析技術（1015％）掌握差熱分析、差示掃描量熱分析和熱重分析的基本原理和應用。5、光譜分析（510％）(1)掌握光譜分析的原理、特征和應用；(2)了解有機化合物基團的特征吸收頻率；(3)熟悉紅外光譜的解析方法。6、其它現(xiàn)代分析方法（05％）Ⅲ、考試方式1、考試方法：筆試，閉卷，滿分100分。2、考試時間：120分鐘。Ⅴ、參考書：1.材料科學研究與測試方法，第二版，朱和國，東南大學出版社，20132.材料現(xiàn)代分析方法