led芯片進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)

1、文件編號QAWI064文件版次A0文件名稱正裝芯片進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)正裝芯片進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件頁次第1頁共6頁修訂記錄修訂記錄日期版次修訂條款修訂內(nèi)容簡述修訂人備注編制編制日期日期：審核審核日期日期：批準(zhǔn)批準(zhǔn)日期日期：會簽□總經(jīng)辦□財務(wù)中心□營銷中心□市場部□研發(fā)□資材中心□采購□倉庫□體系課□項目辦□人力資源□行政□事業(yè)部□品保□工程設(shè)備處□OJT□運營中心□照明（SMD）□燈絲□插件□COB□工程□設(shè)備□IE本資料為源磊科技有限公司之所有財

2、產(chǎn)，未經(jīng)書面許可——不準(zhǔn)透露或使用本資料，亦不準(zhǔn)復(fù)印、復(fù)制或轉(zhuǎn)變成其它形式使用。文件編號QAWI064文件版次A0文件名稱正裝芯片進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)正裝芯片進料檢驗標(biāo)準(zhǔn)文件頁次第3頁共6頁具切割不良芯片破損、增生、形狀大小不規(guī)則、裂紋，允收標(biāo)準(zhǔn)：芯片破損（增生）面積≤15芯片面積裂紋不可有。10張藍膜批顯微鏡20MA電極刮花芯片表面的電極區(qū)域有刮傷的痕跡允收標(biāo)準(zhǔn)：電極區(qū)：芯片任一電極刮傷面積＜該電極面積的15非電極區(qū)：非電極區(qū)刮傷面積＜該芯片

3、面積的14且不可損傷到PN結(jié)。10張藍膜批顯微鏡20MA芯片表面臟污芯片表面有污染痕跡允收標(biāo)準(zhǔn)：電極區(qū)：污染面積＜該電極面積的15非電極區(qū)：污染面積＜該芯片面積的1410張藍膜批顯微鏡20MA掉電極1.電極脫落，有缺口允收標(biāo)準(zhǔn)：不可有2.金手指脫落允收標(biāo)準(zhǔn)：距離電極12以內(nèi)脫落不可接受10張藍膜批顯微鏡20CR外觀檢測排列方向錯誤芯片中有一排（列）或幾排（列）與其他多數(shù)材料排列方向相反，排列不整齊10張藍膜批顯微鏡20CR檢驗項目檢驗項