材料分析化學(xué)期末考試試題

1、A、、名詞解釋（共（共20分，每小分，每小題2分。分。）1.輻射的發(fā)射2.俄歇電子3.背散射電子4.濺射5.物相鑒定6.電子透鏡7.質(zhì)厚襯度8.藍(lán)移9.伸縮振動(dòng)10.差熱分析二、填空二、填空題（共（共20分，每小分，每小題2分。分。）1.電磁波譜可分為三個(gè)部分，即長(zhǎng)波部分、中間部分和短波部分，其中中間部分包括（）、（）和（），統(tǒng)稱為光學(xué)光譜。2.光譜分析方法是基于電磁輻射與材料相互作用產(chǎn)生的特征光譜波長(zhǎng)與強(qiáng)度進(jìn)行材料分析的方法。光譜按強(qiáng)

2、度對(duì)波長(zhǎng)的分布（曲線）特點(diǎn)（或按膠片記錄的光譜表觀形態(tài)）可分為（）光譜、（）光譜和（）光譜3類。3.分子散射是入射線與線度即尺寸大小遠(yuǎn)小于其波長(zhǎng)的分子或分子聚集體相互作用而產(chǎn)生的散射。分子散射包括（）與（）兩種。4.X射線照射固體物質(zhì)(樣品)，可能發(fā)生的相互作用主要有（）、（）（）和（）等。5.多晶體（粉晶）X射線衍射分析的基本方法為（）和（）。6.依據(jù)入射電子的能量大小，電子衍射可分為（）電子衍射和（）電子衍射。依據(jù)電子束是否穿透樣品

3、，電子衍射可分為（）電子衍射與（）電子衍射。7.衍射產(chǎn)生的充分必要條件是（）。8.透射電鏡的樣品可分為（）樣品和（）樣品。9.單晶電子衍射花樣標(biāo)定的主要方法有（）和（）。10.掃描隧道顯微鏡、透射電鏡、X射線光電子能譜、差熱分析的英文字母縮寫分別是（）、（）、（）、（）。三、判斷三、判斷題，表述，表述對(duì)的在括號(hào)里打的在括號(hào)里打“√”，錯(cuò)的打的打“”（共（共10分，每小分，每小題1分）分）1.干涉指數(shù)是對(duì)晶面空間方位與晶面間距的標(biāo)識(shí)。晶面

4、間距為d1102的晶面其干涉指數(shù)為（220）。（）2.倒易矢量rHKL的基本性質(zhì)為：rHKL垂直于正點(diǎn)陣中相應(yīng)的（HKL）晶面，其長(zhǎng)度rHKL等于(HKL)之晶面間距dHKL的2倍。（）倒數(shù)3.分子的轉(zhuǎn)動(dòng)光譜是帶狀光譜。（）4.二次電子像的分辨率比背散射電子像的分辨率低。（）高5.一束X射線照射一個(gè)原子列（一維晶體），只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射。（）6.俄歇電子能譜不能分析固體表面的H和He。（）7.低能電子衍射（LEED）不適

5、合分析絕緣固體樣品的表面結(jié)構(gòu)。（）8.dd躍遷受配位體場(chǎng)強(qiáng)度大小的影響很大，而ff躍遷受配位體場(chǎng)強(qiáng)度大小的影響很小。（）9.紅外輻射與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生紅外吸收光譜必須有分子極化率的變化。（）10.樣品粒度和氣氛對(duì)差熱曲線沒有影響。（）、、單項(xiàng)選擇題單項(xiàng)選擇題（共（共10分，每小分，每小題1分。分。）1.原子吸收光譜是（）。A、線狀光譜B、帶狀光譜C、連續(xù)光譜2.下列方法中，（）可用于測(cè)定方解石的點(diǎn)陣常數(shù)。A、X射線衍射線分析B、紅外光譜

6、C、原子吸收光譜D紫外光譜子能譜3.合金鋼薄膜中極小彌散顆粒(直徑遠(yuǎn)小于1?m)的物相鑒定，可以選擇（）。A、X射線衍射線分析B、紫外可見吸收光譜C、差熱分析D、多功能透射電鏡20.紫外光電子能譜、原子吸收光譜、波譜儀、差示掃描量熱法的英文字母縮寫分別是（）、（）、（）、（）。三、判斷三、判斷題，表述，表述對(duì)的在括號(hào)里打的在括號(hào)里打“√”，錯(cuò)的打的打“”（共（共10分，每小分，每小題1分）分）、、干涉指數(shù)表示的晶面并不一定是晶體中的真實(shí)

7、原子面，即干涉指數(shù)表示的晶面上不一定有原子分布。（）、、倒易矢量rHKL的基本性質(zhì)為：rHKL垂直于正點(diǎn)陣中相應(yīng)的（HKL）晶面，其長(zhǎng)度rHKL等于(HKL)之晶面間距dHKL的倒數(shù)。（）、、二次電子像的分辨率比背散射電子像的分辨率高。（）、、一束X射線照射一個(gè)原子列（一維晶體），只有鏡面反射方向上才有可能產(chǎn)生衍射。（）、、低能電子衍射（LEED）適合于分析所有固體樣品的表面結(jié)構(gòu)。（）、、俄歇電子能譜適合于分析所有固體樣品的表面化學(xué)成分

8、。（）、、、X射線光電子能譜可用于固體表面元素的定性、定量和化學(xué)狀態(tài)分析。（）、、、dd躍遷和ff躍遷受配位體場(chǎng)強(qiáng)度大小的影響都很大。（）、、、分子的振轉(zhuǎn)光譜是連續(xù)光譜。（）、、、無論測(cè)試條件如何，同一樣品的差熱分析曲線都應(yīng)是相同的。（）、、單項(xiàng)選擇題單項(xiàng)選擇題（共（共10分，每小分，每小題1分。分。）11.電子光譜是（）。A、線狀光譜B、帶狀光譜C、連續(xù)光譜12.下列方法中，（）可用于測(cè)定Ag的點(diǎn)陣常數(shù)。A、X射線衍射線分析B、紅外光

9、譜C、原子吸收光譜D紫外光譜子能譜13.某薄膜(樣品)中極小彌散顆粒(直徑遠(yuǎn)小于1?m)的物相鑒定，可以選擇（）。A、X射線衍射線分析B、紫外可見吸收光譜C、差熱分析D、多功能透射電鏡14.幾種高聚物組成之混合物的定性分析與定量分析，可以選擇（）。A、紅外光譜B、俄歇電子能譜C、掃描電鏡D、掃描隧道顯微鏡15.下列（）晶面屬于[110]晶帶。A、（110）B、（011）C、（101）D、（）01116.某半導(dǎo)體的表面能帶結(jié)構(gòu)測(cè)定，可以選

10、擇（）。A、紅外光譜B、透射電鏡C、X射線衍射D紫外光電子能譜17.要分析鐵中碳化物成分和基體中碳含量，一般應(yīng)選用（）。A、波譜儀型電子探針儀B、能譜儀型電子探針儀C、原子發(fā)射光譜D、原子吸收光譜18.要測(cè)定聚合物的熔點(diǎn)，可以選擇（）。A、紅外光譜B、掃描電鏡C、差熱分析D、X射線衍射19.下列分析方法中，（）不能分析固體表面元素的含量。A、俄歇電子能譜B、X射線光電子能譜C、紫外光電子能譜20.要鑒定某混合物中的硫酸鹽礦物，優(yōu)先選擇（

11、）。A、原子吸收光譜B、原子熒光光譜C、紅外光譜D、透射電鏡五、五、簡(jiǎn)答題（共（共40分，每小分，每小題8分）分）6.X射線照射固體物質(zhì)時(shí)可能產(chǎn)生哪些信息？據(jù)此建立了哪些分析方法？7.從原理及應(yīng)用方面指出X射線衍射、透射電透中的電子衍射在材料結(jié)構(gòu)分析中的異同點(diǎn)（8分）8.簡(jiǎn)述波譜儀和能譜儀在進(jìn)行微區(qū)化學(xué)成分分析時(shí)的優(yōu)缺點(diǎn)（8分）9.簡(jiǎn)述有機(jī)、無機(jī)化合物電子光譜的主要類型（8分）10.簡(jiǎn)述差熱分析中放熱峰和吸熱峰產(chǎn)生的原因。（8分）答案答