材料現(xiàn)代分析方法復(fù)習(xí)題學(xué)生部分答案

1、材料現(xiàn)代分析復(fù)習(xí)題前八單元總結(jié)一、填空題1、影響透射電鏡分辨率的因素主要有：衍射效應(yīng)和電鏡的像差（球差、像散、色差）等。2、透射電子顯微鏡的照明系統(tǒng)由電子槍、聚光鏡和相應(yīng)的平移對中、傾斜調(diào)節(jié)裝置組成。它的作用是提供一束亮度高、照明孔經(jīng)角小、平行度好、束流穩(wěn)定的照明源。它應(yīng)滿足明場和暗場成像需求。3、透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)主要是由物鏡、中間鏡和投影鏡組成。4、當(dāng)X射線管電壓超過臨界電壓就可以產(chǎn)生特征譜X射線和連續(xù)譜X射線。5、X射線與物

2、質(zhì)相互作用可以產(chǎn)生散射、入射、透射、吸收6、經(jīng)過厚度為H的物質(zhì)后，X射線的強(qiáng)度為IH=I0exp(μH)。7、X射線的本質(zhì)既有波動性也是粒子性，具有波粒二象性。8、短波長的X射線稱硬X射線，常用于衍射分析；長波長的X射線稱軟X射線，常用于熒光分析。9、德拜相機(jī)有兩種，直徑分別是57.3mm、114.6mm。測量θ角時，底片上每毫米對應(yīng)2和1。10掃描電子顯微鏡常用的信號是二次電子和背散射電子。11、衍射儀的核心是測角儀圓，它由試樣臺、輻

3、射源和探測器共同組成。12、可以用作X射線探測器的有氣體電離計數(shù)器、閃爍計數(shù)器、半導(dǎo)體計數(shù)器等13、影響衍射儀實驗結(jié)果的參數(shù)有狹縫寬度、掃描速度和時間常數(shù)等。14、X射線物相分析包括定性分析和定量分析，而定性分析更常用更廣泛。15、第一類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線峰線偏移（衍射線條位移）；第二類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線峰線寬化(線條變寬)；第三類應(yīng)力導(dǎo)致衍射線衍射強(qiáng)度降低。16、倒易矢量的方向是對應(yīng)正空間晶面的法線，倒易矢量的長度等于對應(yīng)正空間晶面間距

4、的倒數(shù)。17、X射線物相定量分析方法有外標(biāo)法（單線條法）、內(nèi)標(biāo)法、K值法、直接比較法等。18、TEM中的透鏡有兩種，分別是磁透鏡和電透鏡。19、TEM中的三個可動光欄分別是第二聚光鏡光欄位于第二聚光鏡焦點上，物鏡光欄位于物鏡的背焦面上，A（210）B（220）C（221）D（110）4.當(dāng)電子把所有能量都轉(zhuǎn)換為X射線時，該X射線波長稱（A）A.短波限λ0；B.激發(fā)限λk；C.吸收限；D.特征X射線5.當(dāng)X射線將某物質(zhì)原子的K層電子打出去

5、后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產(chǎn)生（D）A.光電子；B.二次熒光；C.俄歇電子；D.（AC）9測定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用方法是（B）。A外標(biāo)法B直接比較法C內(nèi)標(biāo)法DK值法。1德拜法中有利于提高測量精度的底片安裝方法是（C）。A正裝法B倒裝法C不對稱法D.AB6.有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是0.286nm，用鐵靶Kα（λKα=0.194nm）照射該晶體能產(chǎn)生（B）衍射線。A.

6、三條；B.四條；C.五條；D.六條。5電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號中可用于分析1nm厚表層成分的信號是（B）A背散射電子B俄歇電子C特征X射線D吸收電子7.一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于（C）。A是否滿足布拉格條件；B是否衍射強(qiáng)度I≠0；CAB；D晶體形狀。8.電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號中可用于分析1nm厚表層成分的信號是（b）。a背散射電子；b.俄歇電子；c.特征X射線。6采用單色X射線照射到粉末的多晶

7、試樣上，衍射花樣用照相底片來記錄的實驗方法是（A）。A粉末照相法B勞埃法C周轉(zhuǎn)晶體法D衍射儀法9.中心暗場像的成像操作方法是（c）。a以物鏡光欄套住透射斑；b以物鏡光欄套住衍射斑；c將衍射斑移至中心并以物。10.最常用的X射線衍射方法是（B）。A.勞厄法；B.粉末多晶法；C.周轉(zhuǎn)晶體法；D.德拜法。11.測角儀中，探測器的轉(zhuǎn)速與試樣的轉(zhuǎn)速關(guān)系是（B）。A.保持同步1﹕1；B.2﹕1；C.1﹕2；D.1﹕0。12.衍射儀法中的試樣形狀是（