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1、時(shí)間測(cè)量中隨機(jī)誤差的分布規(guī)律PB06210273 張成實(shí)驗(yàn)名稱: 實(shí)驗(yàn)名稱:時(shí)間測(cè)量中隨機(jī)誤差的分布規(guī)律實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?實(shí)驗(yàn)?zāi)康模河贸R?guī)儀器(如電子秒表、頻率計(jì)等)測(cè)量時(shí)間間隔,通過對(duì)時(shí)間和頻率的測(cè)量的隨機(jī)誤差分布,學(xué)習(xí)用統(tǒng)計(jì)法研究物理現(xiàn)象的過程和研究隨 機(jī)誤差的分布規(guī)律。實(shí)驗(yàn)原理: 實(shí)驗(yàn)原理:1、 常用時(shí)間測(cè)量?jī)x器的簡(jiǎn)要原理:① 機(jī)械節(jié)拍器由齒輪帶動(dòng)擺動(dòng)作周期性運(yùn)動(dòng)。② 電子節(jié)拍器按一定的頻率發(fā)出有規(guī)律的聲響和閃光。③ 電子秒表機(jī)芯有 C
2、MOS 集成電路組成,用石英晶體振蕩器作時(shí)標(biāo)。④ VAFN 多用數(shù)字測(cè)試儀由 PMOS 集成元件和 100KHz 石英晶體振蕩器構(gòu)成,可測(cè)量計(jì)數(shù)、振動(dòng)、累計(jì)、速度、加速度、碰撞、頻率、轉(zhuǎn)速、角速脈寬等物理量。2、 統(tǒng)計(jì)分布規(guī)律的研究正態(tài)分布概率密度函數(shù): ? ? ] 2 exp[21 ) ( 22? ? ?x x x f ? ? ?, , nxxnii ?? ? 1 ? ?112??? ??nx xnii? ? ? ?aa dx x
3、f a P ) ( ) (① 統(tǒng)計(jì)直方圖法:計(jì)算試驗(yàn)數(shù)據(jù)的極差 , min max x x R ? ?每小區(qū)域的間隔: Kx xKR x min max ? ? ? ?頻數(shù) ,相對(duì)頻數(shù) ,累計(jì)頻數(shù) ,頻率密度 i n % / ) / ( N ni % / ) / (? N ni x Nni? ?② 概率密度分布曲線:以 為縱坐標(biāo), 為橫坐標(biāo),可得概率密度分布曲線。 ) (x f x實(shí)驗(yàn)內(nèi)容: 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容:用電子秒表測(cè)量電子節(jié)拍器的周期,共
4、測(cè)量 150 次,每次測(cè)量 3 個(gè)周期的 時(shí)長(zhǎng)。數(shù)據(jù)處理: 數(shù)據(jù)處理:3.9 4.0 4.1 4.2 4.3 4.4 4.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0思考題: 思考題:1、 若測(cè)量結(jié)果偏離正態(tài)分布,試分析產(chǎn)生誤差的主要因素。不是“許多” “獨(dú)立因素”,也非“等權(quán)重” ,更不是“無窮多次” 。人的反應(yīng)靈敏度為0.1S,比秒表要低一個(gè)數(shù)量級(jí),而且受環(huán)境影響較大,這也是主要影響因素之一。數(shù)學(xué)模型是物理實(shí)際的理想化。
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