基于機器學習算法的IGBT模塊故障預測技術研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、作為電力電子設備中重要的大功率開關器件,IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor,絕緣柵雙極晶體管)已經(jīng)被應用到眾多領域,發(fā)展前景十分廣闊。然而長時間工作在高強度環(huán)境中的IGBT模塊會逐漸老化,甚至失效。因此能夠?qū)GBT模塊進行實時故障預測,不但可以減少日常維護成本,更能避免因器件失效而造成重大事故。基于此問題,本文結(jié)合機器學習相關算法對IGBT故障預測技術進行研究。
  本文主要工作如下:<

2、br>  首先,對IGBT模塊的工作特性、失效原因以及退化參數(shù)進行研究,選取關斷狀態(tài)的瞬態(tài)尖峰電壓作為觀測參數(shù),對NASA PCoE研究中心提供的老化數(shù)據(jù)進行處理,得到預測實驗所需要的尖峰電壓退化數(shù)據(jù)。
  其次,深入研究機器學習領域中的回歸算法和神經(jīng)網(wǎng)絡算法,利用Google開源平臺TensorFlow搭建算法模型,對關斷尖峰電壓退化數(shù)據(jù)進行訓練和預測。結(jié)果表明:使用RMSProp和批標準化優(yōu)化的長短期記憶循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡具有較高的

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