2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩142頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、隨著數(shù)值分析方法與計(jì)算機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展,計(jì)算物理逐漸成為聯(lián)系理論與實(shí)驗(yàn)的重要分支。成熟的計(jì)算方法被應(yīng)用于很多沒有解析解的物理問(wèn)題中以及對(duì)實(shí)驗(yàn)測(cè)量的數(shù)據(jù)分析。在本文中,我們首先基于三種電子結(jié)構(gòu)計(jì)算方法:中性原子疊加(ATSUP)方法、全勢(shì)綴加平面波(FLAPW)方法與投影綴加平面波(PAW)方法研究如何精確和快速地計(jì)算正電子態(tài)。然后,基于貝葉斯統(tǒng)計(jì)探索正電子湮沒實(shí)驗(yàn)壽命譜的精確解譜方法。之后,將正電子計(jì)算程序應(yīng)用到多個(gè)具體物理問(wèn)題之中。最

2、后,本文將基于卡方分析與實(shí)驗(yàn)觀測(cè)數(shù)據(jù)檢驗(yàn)若干物理模型,并限制它們的參數(shù)空間。本文取得了以下成果:
  本文發(fā)現(xiàn)基于重構(gòu)全勢(shì)的PAW計(jì)算可以給出與FLAPW計(jì)算幾乎完美符合的正電子壽命與親合勢(shì)。通過(guò)正電子與電子轉(zhuǎn)移的角度,清晰地解釋了ATSUP方法與FLAPW方法所計(jì)算的正電子壽命之間差異。在最新的正電子-電子關(guān)聯(lián)近似下的正電子體壽命計(jì)算中,ATSUP方法的計(jì)算精確度相比準(zhǔn)確的電子自洽方法明顯降低。本文提出了兩種新的梯度修正的正電子

3、-電子關(guān)聯(lián)近似形式。它們給出的正電子體壽命與親合勢(shì)與實(shí)驗(yàn)值吻合的很好,其中一種給出的正電子體壽命在所有近似中與實(shí)驗(yàn)值最為吻合。
  基于貝葉斯統(tǒng)計(jì)、卡方分析與馬爾可夫鏈蒙特卡羅方法,細(xì)致分析了正電子壽命實(shí)驗(yàn)解譜中的各個(gè)因素。計(jì)算發(fā)現(xiàn),各解譜參數(shù)之間廣泛存在的相關(guān)性對(duì)結(jié)果影響很大,并可以恰當(dāng)?shù)氖褂胢arginalization估計(jì)方法來(lái)解決。
  使用最新梯度修正后的正電子-電子關(guān)聯(lián)能近似給出了合理的正電子表面態(tài)及壽命,發(fā)現(xiàn)其

4、有機(jī)會(huì)成為除WDA(weighted density approximations)方法外另一種新的有效的DFT計(jì)算方法。本文中還發(fā)展了一種通過(guò)聯(lián)合分子動(dòng)力學(xué)模擬與ATSUP正電子計(jì)算來(lái)獲取金屬中氦泡的正電子壽命的蒙特卡羅方法,并驗(yàn)證了該方法的穩(wěn)定性與可行性。
  基于卡方分析與由172個(gè)正電子體壽命實(shí)驗(yàn)值組成的數(shù)據(jù)集,本文首次統(tǒng)計(jì)性地檢驗(yàn)了理論預(yù)言的正電子體壽命的可靠性。計(jì)算發(fā)現(xiàn),目前經(jīng)常使用的原始GGA(generalized

5、 gradient approximation)形式的正電子-電子關(guān)聯(lián)近似明顯高估了梯度效應(yīng)。此外,本文提出的最好GGA增強(qiáng)因子形式?jīng)]有出現(xiàn)高估梯度效應(yīng)的跡象,且給出的理論值與實(shí)驗(yàn)值之間的方均根誤差(RMSD)可以達(dá)到約3.5 ps。尤其重要的是,本文的統(tǒng)計(jì)結(jié)果顯示,最新的基于量子蒙特卡羅計(jì)算的梯度修正的增強(qiáng)因子所計(jì)算的正電子體壽命理論值與多次測(cè)量所得到的實(shí)驗(yàn)值之間的差異已經(jīng)進(jìn)入了噪聲水平。
  本文的統(tǒng)計(jì)分析證明,目前對(duì)材料的正

6、電子體壽命的理論預(yù)言達(dá)到了一個(gè)全新的可靠性水平,且有望不依賴材料的類型。這使得可以有信心的推斷,與最好的理論方法所計(jì)算得到的理論值相差10 ps(3RMSD)以上的單個(gè)實(shí)驗(yàn)值有理由被質(zhì)疑。這也意味著聯(lián)合對(duì)正電子壽命的理論計(jì)算與有效的壽命譜測(cè)量可以檢驗(yàn)制備晶體(如ZnO等)的質(zhì)量。
  基于卡方分析與之前使用的數(shù)據(jù)集,本文利用兩種參數(shù)化模型限制了正電子-電子增強(qiáng)因子的置信區(qū)間,為之后的模型改進(jìn)提供實(shí)驗(yàn)上的依據(jù),同時(shí)表明實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)還無(wú)法

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論