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文檔簡介
1、應用廣泛的透明導電氧化物薄膜ITO和AZO一直備受人們的關注,雖然ITO薄膜電學性能優(yōu)異,但是在近紅外區(qū)透過率較低,限制了其在紅外技術中的應用;AZO薄膜在近紅外區(qū)透過率很高,但電學性能和ITO相比相差較大。為了得到近紅外區(qū)域透過率高且電學性能優(yōu)良的導電薄膜,本文采用磁控濺射技術在玻璃襯底上制備了ITO/AZO薄膜,測試結果表明,薄膜的光電性能優(yōu)良。
一、ITO/AZO周期膜的制備與性能研究:利用ITO和AZO共同起輝,制備了
2、結構為(AB)n型的周期膜,其中,A為ITO,B為AZO,n為周期數(shù)。通過控制襯底在各靶前停留時間控制單層膜的厚度,通過控制襯底在腔體中旋轉的周期控制薄膜總厚度,研究了單層膜厚、總厚度和周期數(shù)對ITO/AZO周期膜性能的影響:
(1)研究了單層膜厚對ITO/AZO周期膜性能的影響,此時薄膜總厚度為200nm,周期n=20,dA+dB分別為8nm+2nm、6nm+4nm、5nm+5nm、4nm+6nm、2nm+8nm。ITO/A
3、ZO周期膜的測試結果表明:在周期膜層中,當AZO層厚度較薄時,ITO/AZO周期膜生長取向為In2O3的(222)方向,隨著AZO層膜厚的增加,ITO層厚度的減小,ITO/AZO周期膜XRD衍射圖譜逐漸出現(xiàn)ZnO的(002)峰;ITO/AZO周期膜的晶粒尺寸先減小后增大;ITO/AZO周期膜的遷移率和載流子濃度總體呈下降趨勢,電阻率先緩慢升高后急劇升高;ITO/AZO周期膜在可見光區(qū)平均透過率先降低后升高,在近紅外區(qū)的平均透過率逐漸上升
4、,最高達到93.5%。
(2)研究了總厚度對ITO/AZO周期膜特性的影響,此時單層ITO+AZO厚度均為2nm+8m,總厚度分別為160、190、200、220、250、280 nm。測試結果表明:隨著ITO/AZO周期膜總厚度的增加,薄膜的生長擇優(yōu)取向均為ZnO的(002)方向,衍射峰強度沒有因厚度不同而有明顯改變,且表面平整度、粗糙度沒有明顯變化,所有薄膜表面均為顆粒狀;在膜厚為200 nm時,薄膜電學性能最好,遷移率為
5、26.3 cm2V-1s-1,電阻率為1.6×10-3Ω·cm,此時薄膜在可見光區(qū)的平均透過率為88.8%,在近紅外區(qū)平均透過率為91.3%。
(3)保持ITO/AZO周期膜總厚度為200 nm,使dA=dB,周期數(shù)分別為5、10、15、20、30,研究了周期數(shù)對其性能的影響。研究結果表明:當周期數(shù)較少時,ITO/AZO周期膜生長擇優(yōu)取向有In2O3的(222)方向和ZnO的(002)方向,且In2O3的(222)擇優(yōu)取向更加
6、明顯。隨著周期數(shù)的增多,ITO/AZO薄膜的ZnO的(002)擇優(yōu)取向變強,且薄膜表面平整度變好,粗糙度降低,晶體顆粒尺寸變小。隨著周期數(shù)的增多,ITO/AZO周期膜載流子濃度持續(xù)降低,遷移率整體呈上升趨勢,電阻率逐漸增大,在周期為30時載流子濃度最低,為2.5×1020 cm-3,遷移率達到最高值30.1 cm2V-1s-1,此時電阻率為8.2×10-4Ω·cm,且薄膜在近紅外區(qū)平均透過率達到最高值91.1%。
二、使ITO
7、和AZO靶同時起輝,襯底在腔體中做不停留圓周運動,制備了厚度均為200 nm的ITO/AZO復合膜。通過改變ITO和AZO濺射功率,改變其在復合膜中的含量,研究了濺射功率對ITO/AZO復合膜性能的影響,其中,ITO和AZO功率PITO+ PAZO分別為400W+0W,400W+350W,400W+375W,400W+400W,375W+400W,350W+400W,350W+425W,0W+400W,AZO相對ITO功率逐漸升高。
8、r> 實驗結果表明:不同功率下制備的ITO/AZO復合膜均為非晶結構。功率的改變使得ITO/AZO復合膜表面形貌發(fā)生了很大的變化,AZO功率較低時,薄膜表面非常平整,非晶包絡尺寸較小且均勻,隨著AZO相對功率的升高,薄膜表面平整度降低,非晶包絡變大且尺寸不均勻。隨著AZO功率的升高,載流子濃度總體呈下降趨勢,遷移率變化趨勢和載流子濃度完全相同,電阻率變化趨勢則與其相反。在可見光區(qū),ITO和AZO薄膜透過率較高,ITO/AZO復合膜透過
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