Optima5300DV光譜定性和定量分析的化學(xué)計(jì)量學(xué)方法研究.pdf

1、ICP-AES是高濃度基體中痕量雜質(zhì)定性定量分析的重要方法之一。本文綜述了ICP-AES常用定性分析方法，以及定量分析中解析ICP-AES光譜，消除光譜干擾，改進(jìn)測定準(zhǔn)確度的各類方法，研究了多元光譜擬合(MSF)-ICP-AES測定高濃度稀土La、Ce、Yb基體中其它稀土元素的校正極限，以及偏最小二乘法(PLS)-ICP-AES測定高濃度基體中雜質(zhì)元素的方法，另外，建立了適用于Optima5300DV光譜儀的常見元素定性分析方法。具體工

2、作如下：
　　 1、測定了54種元素共228條譜線的檢出限。實(shí)驗(yàn)表明，大多數(shù)譜線的徑向觀測檢出限低于《圖冊》檢出限(徑向)；絕大多數(shù)譜線的軸向觀測檢出限比《圖冊》檢出限低近一個(gè)數(shù)量級，少數(shù)譜線低近兩個(gè)數(shù)量級，僅有7條譜線的軸向觀測檢出限高于徑向觀測檢出限；另外，絕大多數(shù)譜線的軸向觀測檢出限低于徑向觀測檢出限，但極少數(shù)落在NO、OH、NH或N2+等自由基和分子離子發(fā)射帶的譜線，其徑向觀測檢出限要優(yōu)于軸向觀測檢出限。
　　

3、2、建立了基于Optima5300DV光譜儀的多元光譜擬合(MSF)元素定性分析方法。用MSF技術(shù)校正光譜干擾，以同元素不同分析線測定濃度值的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)或濃度相對差(Rδ)為定性分析參數(shù)，當(dāng)被測元素濃度高于儀器檢出限，且RSD＜100％或Rδ＜67％時(shí)，即可認(rèn)為該元素存在。用本方法對水系沉積物GBW07312及7種合金樣品進(jìn)行元素定性分析，準(zhǔn)確率在95％以上。
　　 3、考察了La、Ce和Yb等基體元素對稀土雜質(zhì)元素

4、測定的光譜干擾。在雜質(zhì)元素譜線窗口內(nèi)，La、Ce和Yb所產(chǎn)生的干擾線總數(shù)量比文獻(xiàn)報(bào)導(dǎo)的少，且當(dāng)基體元素濃度增大時(shí)，在雜質(zhì)元素譜線窗口內(nèi)出現(xiàn)一些未曾報(bào)道過的譜線。經(jīng)多元光譜擬合(MSF)法校正，基體元素的光譜干擾得到有效消除，雜質(zhì)元素的檢出限明顯降低，但仍達(dá)不到?jīng)]有La、Ce和Yb時(shí)的水平。當(dāng)測定質(zhì)量濃度為0.100μg·mL-1雜質(zhì)元素時(shí)允許質(zhì)量濃度為1000～2000μg·mL-1基體元素存在，當(dāng)被測的雜質(zhì)濃度進(jìn)一步降低時(shí)允許基體元素

5、的最高濃度也隨之降低。建立MSF模型時(shí)，應(yīng)使建模溶液中雜質(zhì)元素濃度是這些元素檢出限的100倍，基體元素濃度接近實(shí)際樣品中基體的存在量，MSF建模數(shù)據(jù)與樣品測定數(shù)據(jù)還須在同一實(shí)驗(yàn)條件下完成。
　　 4、建立了ICP-AES測定高濃度基體中微量雜質(zhì)元素的偏最小二乘方法。研究表明，PLS能有效消除基體的干擾，且它對基體濃度的容忍能力比MSF更強(qiáng)。當(dāng)基體與雜質(zhì)的質(zhì)量比為1000:1～20000:1時(shí)，該方法的回收率仍在95％～105％之