一種測(cè)量菱鎂礦中鎂元素的EDXRF新方法.pdf

1、能量色散X射線熒光分析(XRF)以其分析速度快,檢測(cè)元素范圍廣,測(cè)量時(shí)間短,樣品制備簡(jiǎn)單,可實(shí)現(xiàn)野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過程控制分析等特點(diǎn),在冶金機(jī)械、食品安全、材料科學(xué)、環(huán)境地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
　　菱鎂礦因具有較高的耐火性、黏結(jié)性等特點(diǎn)已被廣泛的應(yīng)用于冶金、建材、造紙化工、航天航空、汽車、農(nóng)牧業(yè)和輕工業(yè)、尖端科學(xué)等領(lǐng)域。菱鎂礦是提純、生產(chǎn)鎂制品的主要原材料,因此準(zhǔn)確的測(cè)量菱鎂礦中鎂元素(Z=12)含量對(duì)菱鎂礦資源的分級(jí)

2、、開采、提純等具有指導(dǎo)意義。
　　由于輕元素(Z=11~20)熒光產(chǎn)額、激發(fā)效率較低,應(yīng)用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析儀不易被探測(cè),因此改善能量色散X射線熒光分析儀對(duì)輕元素的探測(cè)效率是熒光分析領(lǐng)域一直關(guān)注的問題。目前,一般的解決方案主要從探頭、探測(cè)器、多道分析器、真空管路、控制平臺(tái)以及分析軟件等方面對(duì)儀器硬件進(jìn)行了改進(jìn),對(duì)目標(biāo)元素的分析仍采用傳統(tǒng)的直接測(cè)量分析方法。但是,這種提高儀器的性能的硬件改進(jìn)措施,增加了設(shè)備的造價(jià),

3、加重了儀器制造商及使用者的經(jīng)濟(jì)負(fù)擔(dān)。同時(shí),會(huì)使儀器在使用時(shí)操作十分不便,也不易于分析儀向著便攜式、小型化方向發(fā)展。
　　本文突破傳統(tǒng)的對(duì)目標(biāo)元素直接分析的方法,另辟蹊徑,對(duì)菱鎂礦中鎂進(jìn)行探測(cè)。利用化學(xué)方法對(duì)樣品進(jìn)行前處理并與X熒光分析理論相結(jié)合,建立了一套將菱鎂礦中目標(biāo)元素Mg轉(zhuǎn)換為對(duì)中等原子序數(shù)Ba進(jìn)行測(cè)量的獨(dú)特分析方法,并取得了良好的研究結(jié)果,為今后的EDXRF的發(fā)展開辟了新思路。
　　文章分別從熒光分析技術(shù)的現(xiàn)狀、理論