反演算法在光全散射法測量顆粒粒徑分布中的應(yīng)用.pdf

1、目前，國內(nèi)比較流行的幾種粒徑測試方法大多適用范圍窄，計算過程復(fù)雜，對測試環(huán)境要求較高，而光全散射法下顆粒粒徑的分布是根據(jù)不同波長照射顆粒系所得到的消光值來計算的，具有實驗操作簡單，適用范圍廣，測試速度快等優(yōu)點。但是該方法的最大難題在于第一類Fredholm積分方程的求解問題，須采用反演算法來解決。
　　本文主要研究反演算法在光全散射測量顆粒系的粒徑分布中的應(yīng)用。
　　文章首先給出了顆粒測量方法的分類和發(fā)展方向，著重分析了光散

2、射的產(chǎn)生機理和測量理論—Mie理論，并對Mie氏理論進行顆粒粒徑測量的可行性進行了系統(tǒng)的分析。在討論了反演算法分類方法后得知，粒徑的反演算法通過粒徑分布函數(shù)的是否確定可以分為兩種:獨立模式反演算法和非獨立模式反演算法。獨立模式算法在研究那些不知道粒徑分布函數(shù)的體系有相當(dāng)大的優(yōu)勢，但是其計算相比于非獨立模式要復(fù)雜并且速度慢，因此選擇更適合在線測量的非獨立模式反演算法作為主要研究對象。非獨立模式反演算法包括球形顆粒粒徑分布的反常衍射近似反演