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文檔簡介
1、本文采用射頻磁控濺射法,以ZnO和Eu2O3混合物作為濺射靶材,Ar氣為工作氣體,O2氣為反應氣體,在硅(Si)襯底和藍寶石(Al2O3)襯底上制備ZnO:Eu3+薄膜。利用X射線衍射儀(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)和熒光分光光度計對ZnO:Eu3+薄膜的晶體結構、表面形貌和發(fā)光性能進行測試。
實驗結果表明:
?。?)ZnO:Eu3+薄膜的晶體結構
ZnO:Eu3+薄膜呈現(xiàn)六角纖
2、鋅礦結構,是 C軸擇優(yōu)生長的多晶薄膜,且沒有Eu2O3的雜相出現(xiàn),說明稀土Eu3+離子可能已經摻入到 ZnO晶格中;退火樣品比未退火樣品的晶面間距和晶格常數(shù)都變大,晶粒長大,退火可以改善 ZnO:Eu3+薄膜的結晶質量。
?。?)ZnO:Eu3+薄膜的表面形貌
ZnO:Eu3+薄膜樣品的表面形貌都比較致密,且晶粒尺寸大小大約30nm左右,是納米級Eu3+離子摻雜ZnO薄膜。通過與硅(Si)襯底對比,ZnO:Eu3+薄膜
3、更適宜在藍寶石(Al2O3)襯底上生長,具有更好的C軸擇優(yōu)生長。
?。?)ZnO:Eu3+薄膜的發(fā)光性能
分別測試硅襯底和藍寶石襯底 ZnO:Eu3+薄膜的退火樣品和未退火樣品的激發(fā)光譜和發(fā)射光譜。通過熒光光譜分析可知,ZnO:Eu3+薄膜在直接激發(fā)下,光致發(fā)光譜呈現(xiàn) Eu3+離子的特征發(fā)射。激發(fā)波長不同,ZnO:Eu3+薄膜發(fā)射光譜中發(fā)射峰也不同。退火能夠提高Eu3+的發(fā)光強度,有利于ZnO:Eu3+薄膜實現(xiàn)Eu3+
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