多道次冷軋退火雙相不銹鋼的內(nèi)界面特征分布研究.pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、本文利用電子背散射衍射(EBSD)、掃描電子顯微鏡(SEM)和光學(xué)顯微鏡(OM)技術(shù)研究了循環(huán)冷軋退火對(duì)UNS S32304雙相不銹鋼內(nèi)界面特征分布(IPCD)的影響,并利用電化學(xué)工作站對(duì)合金樣品的耐晶間腐蝕性能進(jìn)行了評(píng)價(jià)。結(jié)果表明:對(duì)于初始組織為單一鐵素體的樣品,經(jīng)過(guò)循環(huán)冷軋退火,特別是2道次冷軋退火及單道次大形變冷軋退火后會(huì)發(fā)生α的回復(fù),形成大量的小角度晶界,而且相變析出的奧氏體與鐵素體基體間保持特定的取向關(guān)系,形成低能的K-S和N

2、-W等相界。然而,對(duì)于初始微觀組織呈兩相條帶分布的樣品,經(jīng)歷相同的軋制退火后,α和γ相的再結(jié)晶過(guò)程同時(shí)進(jìn)行,僅伴有少量的相變發(fā)生,α相內(nèi)大都為一般大角度晶界,兩相間基本不滿足特定的取向關(guān)系,即K-S和N-W等相界比例較少。經(jīng)電化學(xué)腐蝕試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)前者具有較高的晶間腐蝕抗力,其中的小角度晶界、孿晶界和特定取向關(guān)系如K-S和N-W相界等表現(xiàn)出優(yōu)異的腐蝕耐力。
  采用掃描電子顯微鏡(SEM)及電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)對(duì)經(jīng)冷軋的雙相不

3、銹鋼UNS S32304在1050℃下退火的顯微組織轉(zhuǎn)變進(jìn)行了原位追蹤。兩相由于晶體結(jié)構(gòu)的不同而表現(xiàn)出不同的變形抗力,奧氏體塑性變形量較比鐵素體大;根據(jù)滑移跡線發(fā)現(xiàn)其中一半的奧氏體晶粒通過(guò)開(kāi)動(dòng){111}<110>主滑移系進(jìn)行變形;經(jīng)1050℃真空退火2 min后,兩相的晶內(nèi)取向差變化表明鐵素體較比奧氏體發(fā)生了更大程度的回復(fù);再經(jīng)5min真空退火后,樣品中兩相晶粒取向與其初始取向具有較大差異,表明發(fā)生了以再結(jié)晶為主并伴有少量相變反應(yīng)的組織

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