儀器自檢技術(shù)的研究和實(shí)現(xiàn).pdf

1、本論文以對分析儀器的研究為背景，以提高分析儀器的自檢能力為主要目標(biāo)，詳細(xì)討論了分析儀器中各個主要功能模塊的自檢設(shè)計方法。
　　 隨著計算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展和大規(guī)模集成電路的廣泛應(yīng)用，儀器在改善和提高自身性能的同時，也大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性。這就給儀器的自檢帶來了諸多問題，如自檢時間長，故障診斷困難、使用維護(hù)費(fèi)用高等，儀器的自檢設(shè)計逐漸引起了人們的高度重視。自檢的目的主要是為了提高系統(tǒng)的可靠性，而可靠性是衡量產(chǎn)品質(zhì)量的一個重要指標(biāo)。

2、隨著科技的發(fā)展，在一些高科技領(lǐng)域特別是國防、航空等領(lǐng)域，可靠性得到越來越多的重視。如前蘇聯(lián)的切爾諾貝利核電站泄露，美國“挑戰(zhàn)號”航天飛機(jī)失事等不可靠性事件的發(fā)生，使我們越來越多地意識到產(chǎn)品可靠性的重要。根據(jù)哲學(xué)的理論，解決問題時要抓住事物的主要矛盾。因此，要提高系統(tǒng)的可靠性就必須提高系統(tǒng)的自檢能力。自20世紀(jì)80年代以來，自檢技術(shù)在國外得到了飛速發(fā)展，研究人員開展了大量的系統(tǒng)測試和診斷問題的研究，測試性逐步形成了一門與可靠性、維修性并行

3、發(fā)展的學(xué)科分支。由于各種原因，我國對自檢技術(shù)的研究起步較晚，但發(fā)展迅速。但是，從總體水平來看，我國自檢技術(shù)的水平與世界先進(jìn)國家相比還有一定的差距。不過值得欣慰的是，隨著我國對自檢技術(shù)的重視，將會逐步減小和國外的差距。
　　 目前國內(nèi)外的論文對自檢技術(shù)的研究主要是針對儀器的某一個模塊，如RAM、ROM、輸入輸出通道等，這些論文很多只是理論，有些并沒有在實(shí)踐中加以應(yīng)用，而且這些論文也沒有完整的對一臺儀器的各個主要部分進(jìn)行研究過。本論