回轉類零件形位誤差的非接觸精密測量系統研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文在對激光衍射測量技術及CCD技術進行了較為廣泛和深入的理論分析和實驗的基礎上,探討了用激光衍射測量技術及CCD技術測量回轉類零件形位誤差的非接觸精密測量方法.在理論研究的基礎上,實現自動識別一楨CCD信號暗點個數,對個別暗點進行粗略定位,用最小二乘曲線擬合方法實現暗點的精確定位.建立評定回轉體形位誤差的數學模型,采用半徑增量法,在垂直于工件的回轉軸線的等間距截面輪廓上,獲得等角度間隔的離散采樣點采樣資料,根據不同的數學模型求得不同評

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