=系統(tǒng)校正設計根軌跡法超前校正

1、系統(tǒng)校正設計：根軌跡法超前校正系統(tǒng)校正設計：根軌跡法超前校正一校正原理一校正原理如果原系統(tǒng)的動態(tài)性能不好，可以采用微分校正，來改善系統(tǒng)的超調量和調節(jié)時間，滿足系統(tǒng)動態(tài)響應的快速性與平穩(wěn)性的定量值。微分pMst校正的計算步驟如下。(1)作原系統(tǒng)根軌跡圖；(2)根據動態(tài)性能指標，確定主導極點在S平面上的正確位置；如果主is導極點位于原系統(tǒng)根軌跡的左邊，可確定采用微分校正，使原系統(tǒng)根軌跡左移，過主導極點。(3)在新的主導極點上，由幅角條件計算

2、所需補償的相角差φ；計算公式為：(11)iss????(s)][Garg180o?此相角差φ表明原根軌跡不過主導極點。為了使得根軌跡能夠通過該點，必須校正裝置，使補償后的系統(tǒng)滿足幅角條件(4)根據相角差φ，確定微分校正裝置的零極點位置；注意滿足相角差φ的零極點位置的解有許多組，可任意選定。在這里給出一種用幾何作圖法來確定零極點位置的方法如下過主導極點與原點作直線，○1isOA過主導極點作水平線，○2is平分兩線夾角作直線交負實軸于點，○