單層WS2xSe2-2x化學(xué)氣相沉積.pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè)，還剩107頁(yè)未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、目前，類石墨烯過渡族硫?qū)倩衔镆鹆巳祟悘V泛的研究興趣。二維材料MoS2、WS2、MoSe2、WSe2等均具有層數(shù)依賴的帶隙結(jié)構(gòu)，過渡族硫?qū)倩衔锏膸犊烧{(diào)控，大約從0.8eV到2.1eV，而且由于它們顯示出的雙極性電子輸運(yùn)特性，使其今后在電子學(xué)、光電子學(xué)器件方面得到重要應(yīng)用。這些材料有潛在的高靈敏的光電性能，但受到單原子層厚度的吸附性和不同帶隙的光譜選擇性的不同而不同。我們通過自己搭建的二溫區(qū)化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)，在Si/SiO2襯底上生

2、長(zhǎng) WS2、WSe2、WS2xSe2-2x（0＜x＜1）薄膜。通過改變生長(zhǎng)條件和原料，可以得到不同S、Se比例（n型摻p或p型摻n）的摻雜薄膜樣品，生長(zhǎng)完成后，得到的樣品可以通過光學(xué)顯微鏡觀察尺寸和形貌，利用AFM可以確定樣品的層數(shù)和表面平整度，還可以通過制備的透射樣品觀察到原子的排列平整度，從而判斷樣品的質(zhì)量，之后用拉曼光譜得到不同摻雜比例單層樣品的拉曼特征峰的偏移，粗略的看出S、Se摻雜的量不同，通過PL譜的峰位可算出S、Se的摻雜

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請(qǐng)與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論