PANI和MWCNT改性PVDF薄膜環(huán)境穩(wěn)定性的影響研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文選用聚偏氟乙烯(PVDF)為基體,以聚苯胺(PANI)和多壁碳納米管(MWCNT)為導(dǎo)電填料,將PVDF/PANI、PVDF/MWCNT、PVDF/PANI/MWCNT這三種復(fù)合薄膜分別放入真空紫外環(huán)境、原子氧環(huán)境及二者的協(xié)同環(huán)境中進(jìn)行地面模擬空間輻照試驗,通過對輻照后薄膜的電學(xué)性能、力學(xué)性能以及晶體結(jié)構(gòu)、表面形態(tài)等的研究,來探討空間輻照效應(yīng)對復(fù)合薄膜質(zhì)量損失、性能和結(jié)構(gòu)的影響。
  研究結(jié)果表明,PVDF/PANI復(fù)合薄膜經(jīng)

2、過空間輻照后,質(zhì)量損失增大,力學(xué)性能退化,斷裂強度下降。真空紫外和原子氧輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)下降,介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率升高;而真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)下降,介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率隨輻照時間的增加而下降。
  PVDF/MWCNT復(fù)合薄膜經(jīng)過空間輻照后,質(zhì)量損失小于同時間內(nèi)PVDF/PANI復(fù)合薄膜的質(zhì)損;力學(xué)性能退化,斷裂強度下降;輻照后薄膜晶型衍射峰的相對強度減弱;輻照效應(yīng)使薄膜表面形態(tài)發(fā)生變化。

3、真空紫外效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)和電導(dǎo)率上升;原子氧輻照、真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)使復(fù)合薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)及電導(dǎo)率均小于未輻照薄膜。
  PVDF/PANI/MWCNT三相復(fù)合薄膜在經(jīng)過空間輻照后,相較于前兩種復(fù)合薄膜,質(zhì)量損失居中。單一真空紫外輻照效應(yīng)和單一原子氧輻照效應(yīng)使薄膜的介電常數(shù)、介電損耗系數(shù)及電導(dǎo)率下降,力學(xué)性能退化,輻照表面出現(xiàn)孔洞和褶皺;而真空紫外和原子氧的協(xié)同輻照效應(yīng)加劇了復(fù)合薄膜表

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