基于機(jī)器視覺的LED芯片與激光光斑檢測(cè)方法.pdf

1、分類號(hào)：UDC：密級(jí)：學(xué)校代號(hào)：11845學(xué)號(hào)：2111301047廣東工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文(工學(xué)碩士)基于機(jī)器視覺的LED芯片與激光光斑檢測(cè)方法涂敘安指導(dǎo)教師姓名、職稱：昌文閣教援學(xué)科(專業(yè))或領(lǐng)域名稱：扭越遮讓厘理論學(xué)生所屬學(xué)院：扭電工程堂院論文答辯日期：2Q!魚生魚目摘要摘要LED技術(shù)是一種需要高端的工藝技術(shù)和工藝設(shè)備支撐的高科技技術(shù)，同時(shí)還需要高端設(shè)備來(lái)滿足LED產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。目前工業(yè)生產(chǎn)、加工與檢測(cè)的高端設(shè)備中多與機(jī)器視覺進(jìn)行配

2、合，利用機(jī)器視覺系統(tǒng)能夠快速檢測(cè)出產(chǎn)品缺陷和精確定位等優(yōu)勢(shì)，提高生產(chǎn)效率。在運(yùn)用激光對(duì)LED芯片精密加工設(shè)備中，機(jī)器視覺主要用來(lái)定位檢測(cè)，提高設(shè)備的檢測(cè)和JJnq速率。本文就LED芯片激光加工設(shè)備中，運(yùn)用機(jī)器視覺檢測(cè)LED芯片中出現(xiàn)排列不整齊的晶元和不合格的晶元，并輸出所檢測(cè)晶元的中心坐標(biāo)，另外在激光加工前判斷激光光斑是否變異。圖像處理算法主要包括形狀匹配的精確定位，圓度計(jì)算方式的差異性對(duì)比，以及如何存儲(chǔ)所有晶元中心坐標(biāo)方法和基于競(jìng)選算

3、法計(jì)算圖像的多閾值算法。具體內(nèi)容如下：①根據(jù)LED芯片檢測(cè)產(chǎn)品中出現(xiàn)的不良晶元情況及其晶元結(jié)構(gòu)特征分析，選擇加工刀具；制定檢測(cè)與加工的流程，并研究視覺檢測(cè)所需要使用的圖像處理方法，對(duì)圖像處理的方法進(jìn)行對(duì)比，確定一種可行的圖像處理算法。②通過(guò)分析LED芯片整個(gè)加工流程和加工要求，制定檢測(cè)算法流程圖順序，并且對(duì)不同類型的芯片檢測(cè)增加相應(yīng)的算法預(yù)留空間。其中最為核心的是對(duì)每一個(gè)檢測(cè)晶元的中心坐標(biāo)定位算法，通過(guò)對(duì)晶元本身特點(diǎn)的研究，決定采用形狀

4、匹配、金字塔搜索策略和最小二乘法計(jì)算匹配目標(biāo)的亞像素形狀的中心坐標(biāo)，以達(dá)到精定位，與求取晶元電極的最小外接矩的中心作為晶元中心點(diǎn)的坐標(biāo)對(duì)比驗(yàn)證。另外，對(duì)于獲得的所有晶元坐標(biāo)，設(shè)計(jì)一個(gè)了快捷方便的存儲(chǔ)方式，為后續(xù)的激光加工提供坐標(biāo)定位。③為檢測(cè)晶元缺陷設(shè)計(jì)了一個(gè)自動(dòng)計(jì)算圖像閾值的算法。該算法采用競(jìng)選算法作為快速搜索全局最優(yōu)閾值的基礎(chǔ)算法，其核心是將圖像的灰度直方圖分割成幾部分，對(duì)各部分直方圖高斯擬合得出新的分布函數(shù)，與原直方圖函數(shù)在解空間