密碼芯片測試流程分析與驗證方法研究.pdf

1、密碼芯片測試在電氣、物理特性等基本參數(shù)的測試基礎(chǔ)上，還需要對其密碼服務(wù)功能和性能進行測試。由于密碼芯片種類多、測試內(nèi)容不盡相同、測試流程差異大，采用傳統(tǒng)方法構(gòu)建測試系統(tǒng)，測試軟件設(shè)計復雜，適應(yīng)性不強；采用過程管理思想構(gòu)建基于流程管理的測試軟件系統(tǒng)，能夠提高對測試對象的適應(yīng)性、降低系統(tǒng)設(shè)計難度與維護成本。
　　本文針對基于流程管理的密碼芯片測試系統(tǒng)中測試流程的規(guī)范描述問題、測試流程的良構(gòu)性分析驗證問題，設(shè)計了密碼芯片測試系統(tǒng)測試流程

2、三維描述模型，提出了基于Petri網(wǎng)的測試流程活性分析方法和基于完備樹的測試流程或分支完整性驗證方法。
　　1.為了支持測試系統(tǒng)中測試流程規(guī)范描述，設(shè)計了密碼芯片測試系統(tǒng)測試流程三維描述模型。在分析密碼芯片測試系統(tǒng)密碼服務(wù)功能與性能測試流程描述需求的基礎(chǔ)上，參照國際標準ATML，設(shè)計了包含控制過程元模型、測試資源元模型、數(shù)據(jù)元模型的三維測試流程描述模型。同時給出了三維模型的圖示化表示，支持測試流程的可視化定義和編輯；給出了三維模型

3、的XML描述，支持測試流程系統(tǒng)存檔。實例分析表明，三維描述模型可用于密碼芯片密碼服務(wù)功能與性能測試流程的規(guī)范描述，支持密碼芯片測試軟件設(shè)計，提高了測試系統(tǒng)對不同密碼芯片測試的適應(yīng)性。
　　2.測試流程的良構(gòu)性是測試的前提，而活性分析是保證測試流程良構(gòu)性的基礎(chǔ)，本文提出了基于Petri網(wǎng)的測試流程活性分析。給出了三維描述模型到Petri網(wǎng)模型的轉(zhuǎn)換規(guī)則，并驗證分析了轉(zhuǎn)換前后活性的一致性，利用Petri網(wǎng)分析技術(shù)對目標測試流程模型進行

4、了活性分析，從而等價實現(xiàn)對源測試流程模型的活性分析。應(yīng)用實例也表明，該方法為三維描述模型描述的測試流程活性分析提供了有效的解決途徑。
　　3.測試流程或分支完整性驗證是保證流程良構(gòu)性的重要組成部分，本文提出了基于完備樹的測試流程或分支完整性驗證方法。給出了或分支完整性問題的形式化定義，將或分支判斷條件集轉(zhuǎn)換成或分支矩陣，根據(jù)判斷變量集構(gòu)造一顆完備樹，對其進行有條件裁剪，構(gòu)造完備矩陣，與或分支矩陣比較驗證或分支是否完整性，并可判斷或