基于SEIR測試結(jié)構(gòu)的ADC積分非線性的測試算法研究與實(shí)現(xiàn).pdf

1、在電子工業(yè)中，高速高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)作為連接現(xiàn)實(shí)模擬世界和數(shù)字處理系統(tǒng)之間的橋梁，其應(yīng)用范圍已經(jīng)深入工業(yè)領(lǐng)域的很多方面。但對ADC參數(shù)如積分非線性(INL)的測試變成了一個挑戰(zhàn)。標(biāo)準(zhǔn)的測試方法主要適用于中低分辨率ADC，而對于高分辨率ADC，也面臨著對信號源分辨率要求過高和總采樣點(diǎn)數(shù)龐大等局限性。因此，探索出一種對ADC積分非線性的高效測試方法具有重要意義。
　　本論文研究出一種基于SEIR測試結(jié)構(gòu)的ADC積分非線性測試算

2、法。該算法搭建SEIR的測試結(jié)構(gòu)，采用低分辨率信號源，使待測ADC采集到兩組只有固定偏差的數(shù)字碼，選擇傅里葉系數(shù)來直接建模ADC的INL曲線，并根據(jù)信號源輸入非線性在相同實(shí)驗(yàn)環(huán)境不變的屬性和固定偏差的關(guān)系建立方程組，利用最小平方估計(jì)法(LS)擬合出這組傅里葉系數(shù)。為了進(jìn)一步提高INL擬合曲線的精度，該算法采用分段擬合的方式將兩組輸出數(shù)字碼等分為多段。每段輸出數(shù)字碼都包含一段INL子曲線和一組傅里葉系數(shù)，代入到估計(jì)方法并獲得每段的傅里葉系

3、數(shù)，還要通過連續(xù)化的處理，從而得到整段INL擬合曲線，并且精度會進(jìn)一步提高。
　　在所給算法的基礎(chǔ)上，本文通過MATLAB軟件進(jìn)行一系列仿真，并設(shè)計(jì)14比特ADC待測模塊和10比特信號源模塊，搭建測試平臺，共同驗(yàn)證算法的有效性。測試結(jié)果表明:標(biāo)準(zhǔn)直方圖方法測得的INL值范圍是-1.41LSB至1.48LSB;該算法在使用10比特信號源，并選擇20段和12階傅里葉系數(shù)時測得的INL值范圍是-1.01LSB至1.22LSB，兩者之間最