數(shù)字電路的位級(jí)并行ATPG研究.pdf

1、密級(jí)桂林電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文題目數(shù)字電路的位級(jí)并行ATPG研究（英文）（英文）AbitlevelParallelATPGResearchoftheDigitalCircuit研究生學(xué)號(hào):122081803研究生姓名:秦李青指導(dǎo)教師姓名、職務(wù)指導(dǎo)教師姓名、職務(wù):顏學(xué)龍教授申請(qǐng)學(xué)科門(mén)類:工學(xué)碩士學(xué)科、?？?、專業(yè):儀器科學(xué)與技術(shù)提交論文日期:2015年4月論文答辯日期:2015年6月摘要摘要隨著半導(dǎo)體存儲(chǔ)器工業(yè)技術(shù)、深亞微米工藝技術(shù)及芯片

2、生產(chǎn)工藝技術(shù)的快速發(fā)展，電路的工藝尺寸不斷減小，電路的集成度、復(fù)雜度與日俱增，使得高集成度電路的測(cè)試變得尤為困難。顯然傳統(tǒng)的測(cè)試生成算法對(duì)于目前的集成電路來(lái)說(shuō)已經(jīng)不再充分有效甚至適用，因此測(cè)試生成的研究具有十分重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義，它的主要目的就是找到新穎、高效的測(cè)試生成算法。早在六十年代單固定型故障的測(cè)試生成問(wèn)題就已經(jīng)得到解決了。但是，理論分析證明，自動(dòng)測(cè)試生成所涉及的問(wèn)題及其相關(guān)的子問(wèn)題幾乎都是NP完全問(wèn)題，所以，加速測(cè)試生成，

3、提高測(cè)試生成質(zhì)量一直是人們關(guān)注的問(wèn)題。論文專注于組合電路中建立模型為單固定故障的測(cè)試向量生成。為了減小測(cè)試向量生成時(shí)間和提高故障覆蓋率的目的，重點(diǎn)研究了以下內(nèi)容：數(shù)字電路測(cè)試的基本理論、故障模型及建模、測(cè)試向量質(zhì)量的評(píng)價(jià)指標(biāo)、可測(cè)性度量方法及自動(dòng)測(cè)試向量生成的一些主要算法，尤其詳細(xì)介紹了一種確定性測(cè)試生成位級(jí)并行的自動(dòng)測(cè)試向量生成算法—SWK測(cè)試生成算法，并將該算法與可測(cè)性測(cè)度結(jié)合起來(lái)，對(duì)該算法進(jìn)行改進(jìn)。在原型算法和改進(jìn)型SWK測(cè)試生成