嵌入式IO控制器軟件測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、隨著嵌入式軟件在航空、航天等諸多領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，嵌入式軟件的質(zhì)量越來越受到關(guān)注。軟件一旦失敗，就會(huì)直接或間接影響人類的生命財(cái)產(chǎn)和生態(tài)環(huán)境的安危，作為保障軟件質(zhì)量重要手段的軟件測(cè)試技術(shù)逐漸被重視和應(yīng)用。本文以我院研制的發(fā)控計(jì)算機(jī)IO控制器軟件測(cè)試需求為背景，搭建一套獨(dú)立有效的第三方測(cè)試平臺(tái)，圍繞發(fā)控計(jì)算機(jī)IO控制器軟件測(cè)試平臺(tái)研制及測(cè)試過程中存在的關(guān)鍵問題展開研究。本文的主要貢獻(xiàn)有以下四點(diǎn)：
　　1、比較研究了目前存在的通用軟件測(cè)試

2、過程模型的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，結(jié)合嵌入式發(fā)控系統(tǒng)IO控制器軟件的特點(diǎn)，提出嵌入式IO控制器軟件測(cè)試過程模型，在確保IO控制器軟件質(zhì)量的同時(shí)，提高了測(cè)試效率。
　　2、課題從型號(hào)實(shí)際需要出發(fā)，將靜態(tài)測(cè)試技術(shù)應(yīng)用到IO控制器軟件測(cè)試工作中，研究了靜態(tài)測(cè)試中的度量技術(shù)，同時(shí)考慮到圈復(fù)雜度、基本復(fù)雜度、扇入/扇出數(shù)對(duì)海軍型號(hào)軟件的影響，提出了降低部分軟件靜態(tài)度量指標(biāo)的方法。
　　3、結(jié)合IO控制器軟件的特點(diǎn)，詳細(xì)地分析了海軍裝備軟件內(nèi)存缺陷

3、測(cè)試存在的問題，對(duì)嵌入式軟件內(nèi)存使用缺陷測(cè)試進(jìn)行關(guān)注點(diǎn)舉例說明，通過實(shí)驗(yàn)比較分析了三種邏輯測(cè)試工具的代碼膨脹率，闡述了幾種開發(fā)環(huán)境的內(nèi)存泄露測(cè)試的前提條件，為測(cè)試工具選擇提供了依據(jù)，借助CodeTEST測(cè)試工具，找到了嵌入式IO控制器軟件內(nèi)存泄漏的出處并且分析了原因，提出了修改方法。
　　4、論文分析了發(fā)控系統(tǒng)嵌入式IO控制器軟件覆蓋率測(cè)試的需求和難點(diǎn)，配置Testbed/RTinsight和CodeTEST軟件和硬件測(cè)試環(huán)境，盡