基于盲源分離的輻射EMI噪聲分析與診斷方法研究.pdf

1、隨著越來越多的電子電器設(shè)備在科研生產(chǎn)和日常生活中的廣泛應(yīng)用，電磁干擾（EMI）問題也日益突出，為此，各國紛紛制定了電磁兼容（EMC）的標(biāo)準(zhǔn)并強制執(zhí)行，而對EMC問題的研究也在廣泛而又深入的進(jìn)行著。這其中，借助現(xiàn)代信號處理技術(shù)對EMI 噪聲信號進(jìn)行分析研究，進(jìn)而對噪聲源進(jìn)行診斷定位已經(jīng)成為研究熱點之一。
　　 本文主要探討了現(xiàn)代信號處理方法中的盲源分離技術(shù)在輻射EMI 噪聲分析中的應(yīng)用。
　　 首先對輻射EMI的研究背景和

2、發(fā)展現(xiàn)狀以及盲源分離技術(shù)做了簡單的介紹。然后深入研究了一些常見的盲源分離算法，包括快速獨立分量分析FastICA 算法、非參數(shù)密度估計ICA算法和基于STFT的卷積盲源分離算法，并用仿真數(shù)據(jù)和EMI 輻射噪聲實驗數(shù)據(jù)驗證了這些算法在瞬時混合和卷積混合情況下的性能。實驗結(jié)果表明FastICA 算法、非參數(shù)密度估計ICA 算法可以有效分離瞬時混合獨立信號源，但對于EMI 輻射噪聲實驗數(shù)據(jù)存在卷積混合的情況，這二種算法效果差，只能分離出一個源