工業(yè)CT系統(tǒng)誤差源——角度及尺寸誤差的校準(zhǔn)方法研究.pdf

1、工業(yè) CT系統(tǒng)作為一種新型的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,適用于傳統(tǒng)檢測(cè)設(shè)備無(wú)法達(dá)到的內(nèi)部尺寸及特性檢測(cè)。但由于其特殊的成像原理和復(fù)雜的誤差源,國(guó)內(nèi)外對(duì)于其校準(zhǔn)方法的研究尚處于探索階段,亟待深入研究解決。
　　本論文對(duì)工業(yè) CT的量值溯源體系進(jìn)行了深入的研究,對(duì)溯源鏈中坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的校正提出了新的方法,并對(duì)工業(yè) CT系統(tǒng)的主要誤差源,即角度偏差、尺寸誤差(重復(fù)性誤差、探測(cè)誤差及長(zhǎng)度測(cè)量誤差)進(jìn)行了細(xì)致的分析。主要研究?jī)?nèi)容包括:
　　論述了工業(yè)

2、 CT系統(tǒng)誤差源的分析及校準(zhǔn)的重要意義。綜合國(guó)內(nèi)外誤差源校準(zhǔn)研究的進(jìn)展情況,明確了本文的研究?jī)?nèi)容,介紹了本文的創(chuàng)新點(diǎn)。
　　研究了工業(yè) CT系統(tǒng)校準(zhǔn)的量值溯源傳遞步驟中坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的校準(zhǔn),對(duì)傳統(tǒng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)難以達(dá)到高精度校準(zhǔn)的問(wèn)題,提出了基于自校正算法的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)尺寸示值誤差的測(cè)量方法,仿真和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明基于自校正算法的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)尺寸示值誤差的測(cè)量精度可到達(dá)亞微米量級(jí)。
　　構(gòu)建了工業(yè) CT系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)幾何模型,對(duì)由于探測(cè)器、

3、旋轉(zhuǎn)臺(tái)、射線源的幾何位置不理想而引入的角度偏差參數(shù)進(jìn)行研究,提出了基于空間解析幾何法的角度偏差參數(shù)的測(cè)量方法,仿真和實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明基于空間解析幾何的角度偏差參數(shù)測(cè)量精度可優(yōu)于30″。
　　分析了工業(yè) CT系統(tǒng)的精度評(píng)價(jià)指標(biāo)——重復(fù)性、探測(cè)誤差與長(zhǎng)度測(cè)量誤差,結(jié)合國(guó)際校準(zhǔn)規(guī)范的指導(dǎo),在工業(yè) CT系統(tǒng)上對(duì)精度評(píng)價(jià)指標(biāo)進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)探索,并討論了參數(shù)設(shè)置及標(biāo)準(zhǔn)器材料對(duì)誤差測(cè)量的影響。
　　總結(jié)了本論文所開(kāi)展的工作,對(duì)下一步有待完善的工作