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文檔簡(jiǎn)介
1、隨著制造技術(shù)及精密測(cè)量技術(shù)的發(fā)展,人們對(duì)夾具的質(zhì)量及精度提出了更高的要求,夾具系統(tǒng)誤差直接造成工件的定位基準(zhǔn)產(chǎn)生誤差,從而影響到產(chǎn)品的加工精度,對(duì)夾具系統(tǒng)誤差進(jìn)行檢測(cè)與控制具有重要的意義。本文主要對(duì)夾具系統(tǒng)誤差模型、定位元件公差分配以及定位誤差的優(yōu)化調(diào)整進(jìn)行了研究。
首先,建立了夾具系統(tǒng)誤差與工件表面位姿偏差之間的數(shù)學(xué)模型,針對(duì)3-2-1定位方案,給出了模型中各參數(shù)的確定方法。通過(guò)對(duì)夾具系統(tǒng)誤差模型的深入研究,推導(dǎo)出了單個(gè)
2、定位元件的誤差模型,并得出了工件表面特征的幾何誤差,如垂直度誤差、平行度誤差、位置度誤差和傾斜度誤差等與單個(gè)定位元件的幾何誤差之間的關(guān)系。
其次,提出了一種根據(jù)工件表面特征公差分配定位元件公差的方法。根據(jù)各定位元件對(duì)工件表面偏差的影響不同來(lái)分配公差,對(duì)于多加工表面的工件,選擇最嚴(yán)格的那一組公差作為最終各定位元件的公差。
再次,提出了用調(diào)節(jié)定位元件位置的方法來(lái)優(yōu)化夾具系統(tǒng)的誤差。以工件表面特征中的復(fù)合位置度誤差
3、為例,根據(jù)定位敏度來(lái)調(diào)節(jié)對(duì)復(fù)合位置度誤差影響較大的定位元件的位置,通過(guò)編程計(jì)算出各定位元件沿接觸面法線方向的調(diào)整量,來(lái)指導(dǎo)定位元件誤差的優(yōu)化,使得定位誤差達(dá)到最小。
最后,在利用仿真實(shí)驗(yàn)對(duì)上述推論及方法進(jìn)行驗(yàn)證的基礎(chǔ)上,應(yīng)用雷尼紹OMP60測(cè)頭,結(jié)合SKY2003開(kāi)放式數(shù)控系統(tǒng)搭建了在機(jī)檢測(cè)平臺(tái),來(lái)測(cè)取夾具定位元件的幾何誤差,對(duì)夾具誤差調(diào)整方法進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。
實(shí)驗(yàn)表明,文中的結(jié)論正確,公差分配及誤差調(diào)整方法
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