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文檔簡介
1、本文采用磁控濺射技術(shù)在不同的基底上沉積銅膜,通過正交試驗的方法研究不同的工藝參數(shù)對Cu膜組織結(jié)構(gòu)的影響。采用Sn基釬料連接鍍銅鋁合金、鍍銅不銹鋼與紫銅,研究不同的沉積工藝對接頭剪切強度的影響。
濺射電流對銅膜的微觀結(jié)構(gòu)及形貌有較大的影響。隨著濺射電流的增大,Cu膜晶粒尺寸、表面粗糙度以及沉積速率逐漸增大;基體偏壓對Cu膜截面形貌有較大影響,薄膜沉積速率隨著基體偏壓的增大而減小,偏壓為50V時,Cu膜呈現(xiàn)柱狀晶生長方式,而偏壓增
2、大到100V以上時,柱狀晶生長受到抑制;工作氣壓的大小對薄膜的微觀結(jié)構(gòu)影響較小。
沉積Cu膜時,Ar氣流量及濺射電流對釬焊接頭剪切強度有較大影響,Ar氣流量較低時,釬焊接頭強度較低,拉剪試驗時,Cu膜直接從基體上剝離;Ar氣流量較高時,濺射電流對接頭剪切強度影響最為顯著,隨著濺射電流的增大,接頭的抗剪強度逐漸增大。研究發(fā)現(xiàn),接頭強度隨著濺射電流的增加而增大的本質(zhì)原因在于Cu膜厚度的增大。
當(dāng)濺射電流達到1.1A后,繼
3、續(xù)增大濺射電流到1.3A,接頭的剪切強度不再升高,此時接頭的強度大小取決于釬料的強度以及釬焊工藝。鍍銅鋁合金/銅、鍍銅不銹鋼/銅以及鍍銅鋁合金/鍍銅不銹鋼接頭強度最高分別可達41.47MPa、43.32MPa和38.74MPa。接頭共有3種斷裂模式:完全斷于釬料層,部分?jǐn)嘤阝F料層以及完全斷于膜基界面處。
濺射電流為1.3A時,Cu膜與鋁合金基體在膜基界面處發(fā)生了冶金反應(yīng),EDS及XRD分析顯示,界面處產(chǎn)生了CuAl2。
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