基于拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)分析的小時(shí)延缺陷測(cè)試通路選擇方法研究.pdf

1、集成電路制造工藝的進(jìn)步導(dǎo)致芯片上集成晶體管數(shù)目急劇上升，芯片日益趨向高功能密度和高工作頻率。這不僅為設(shè)計(jì)同樣也為測(cè)試帶來了巨大的挑戰(zhàn)，因?yàn)樘卣鞒叽缃档椭率剐酒谐霈F(xiàn)了更多的缺陷。制造中的缺陷包括阻性開路短路、邊緣毛刺、工藝參數(shù)偏差、長(zhǎng)互連線帶來的耦合電容增加、電源噪聲等因素，這些都會(huì)給電路帶來小時(shí)延缺陷，從而給電路帶來額外的時(shí)序錯(cuò)誤而導(dǎo)致芯片失效。隨著芯片設(shè)計(jì)進(jìn)入45nm時(shí)代，小時(shí)延缺陷檢測(cè)是保證電路高性能和高可靠性必不可少的步驟，因此

2、如何選擇針對(duì)小時(shí)延缺陷的測(cè)試路徑是檢測(cè)小時(shí)延缺陷的關(guān)鍵。
　　本文首先研究了已有的時(shí)延故障模型，并選擇了通路時(shí)延故障模型作為小時(shí)延故障模型。在此基礎(chǔ)上，采用基于貪婪思路的深度遍歷搜索算法和廣度遍歷搜索算法進(jìn)行了小時(shí)延缺陷測(cè)試通路選擇算法研究。為了解決貪婪算法在大規(guī)模電路搜索效率低的問題，本文從提出了三種解決方案，一是利用蟻群優(yōu)化算法在保證關(guān)鍵路徑搜索準(zhǔn)確率的基礎(chǔ)上大幅度提高了搜索效率；二是根據(jù)電路的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)選擇電路的關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，提出

3、了針對(duì)電路網(wǎng)絡(luò)的PageRank和HITS節(jié)點(diǎn)重要性排序算法，在此基礎(chǔ)上挑選出電路中關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)，并在簡(jiǎn)化后的電路上采用蟻群優(yōu)化算法進(jìn)行測(cè)試通路搜索，進(jìn)一步提高了大規(guī)模集成電路中針對(duì)小時(shí)延缺陷檢測(cè)的測(cè)試通路的搜索效率；三是提出了一種基于電路中關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)的子電路劃分搜索關(guān)鍵通路算法，同樣提高了大規(guī)模電路的測(cè)試通路的搜索效率。
　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，本文提出的三種解決方案能夠在保證測(cè)試通路搜索準(zhǔn)確性的基礎(chǔ)上有效提高針對(duì)小時(shí)延缺陷測(cè)試測(cè)試通路的搜