小時(shí)延測(cè)試向量分組與向量篩選方法研究.pdf

1、隨著集成電路(IC)工藝不斷發(fā)展，IC集成度不斷提高，時(shí)鐘頻率不斷加快，IC測(cè)試變得越來(lái)越難，IC測(cè)試成為本世紀(jì)初半導(dǎo)體工業(yè)中最大的挑戰(zhàn)之一。新材料和新工藝很容易引起電源噪聲、串?dāng)_效應(yīng)、工藝變異、電阻開(kāi)路及短路等現(xiàn)象，導(dǎo)致IC中出現(xiàn)大量的小時(shí)延缺陷，因此對(duì)小時(shí)延缺陷的檢測(cè)成為當(dāng)今IC測(cè)試面臨的主要問(wèn)題。小時(shí)延缺陷檢測(cè)的關(guān)鍵取決于測(cè)試集的質(zhì)量，因此小時(shí)延測(cè)試向量產(chǎn)生引起人們的關(guān)注。本文著眼于小時(shí)延測(cè)試向量分組和向量篩選兩個(gè)方面，提出了兩種

2、優(yōu)化測(cè)試集質(zhì)量和測(cè)試集數(shù)據(jù)量的方法。并在ISCAS’85和ISCAS’89基準(zhǔn)電路上進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)。本文的主要工作有：
　　首先，提出了一種自調(diào)節(jié)超速測(cè)試向量分組方法。超速測(cè)試向量分組的方法對(duì)小時(shí)延缺陷的檢測(cè)效果好，但向量分組的粒度太細(xì)會(huì)引起嚴(yán)重的過(guò)測(cè)試現(xiàn)象。該方法針對(duì)如何避免超速測(cè)試中過(guò)測(cè)試現(xiàn)象進(jìn)行研究，利用故障模擬技術(shù)及靜態(tài)定時(shí)分析技術(shù)對(duì)超速測(cè)試中的過(guò)測(cè)試現(xiàn)象和測(cè)試逃脫現(xiàn)象進(jìn)行評(píng)估，再根據(jù)其各自的情況對(duì)向量的測(cè)試時(shí)鐘進(jìn)行調(diào)整，從而

3、改變向量分組的結(jié)果。最后利用調(diào)整測(cè)試時(shí)鐘后的測(cè)試向量集進(jìn)行故障模擬，評(píng)估減少過(guò)測(cè)試現(xiàn)象的比例。在ISCAS’89基準(zhǔn)電路上進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)表明，提出的方法在增加少量測(cè)試逃脫現(xiàn)象的情況下，減少過(guò)測(cè)試現(xiàn)象的效果明顯，最高減少了39.30％的過(guò)測(cè)試現(xiàn)象。
　　其次，提出了一種新的小時(shí)延測(cè)試向量篩選方法。該方法用固定型測(cè)試向量的組合來(lái)檢測(cè)小時(shí)延缺陷，從組合的大測(cè)試集中篩選出具有高小時(shí)延缺陷覆蓋率的測(cè)試向量。最后僅用一個(gè)測(cè)試集就能同時(shí)對(duì)固定型故障