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文檔簡介
1、近年來,隨著半導(dǎo)體制造工藝的進步和電力電子系統(tǒng)應(yīng)用要求的提高,功率變換器系統(tǒng)中IGBT模塊的功率等級和密度也越來越高,迫使其內(nèi)部的功率器件承受很高的熱應(yīng)力,尤其是對于風(fēng)力發(fā)電用變頻器系統(tǒng)這類工作環(huán)境惡劣且輸出功率波動劇烈的應(yīng)用場合,IGBT模塊的壽命和長期可靠性受到了顯著影響。結(jié)溫不僅同IGBT模塊的壽命及可靠性直接相關(guān),還會影響其工作性能,甚至于改變變換器輸出端波形的諧波分布情況。因此,獲得既定工作條件下IGBT模塊內(nèi)功率器件的結(jié)溫狀
2、況,對于確保其安全可靠的使用和冷卻裝置的合理選擇等具有顯著意義,本文將對準確仿真預(yù)測IGBT模塊結(jié)溫的方法,三相逆變器系統(tǒng)中結(jié)溫相關(guān)影響因素以及風(fēng)電變頻器系統(tǒng)中非平穩(wěn)工況下的結(jié)溫波動情況開展研究工作。
所有的電力電子器件在運行過程當中都會產(chǎn)生一定的能量損耗,IGBT也不例外,通常這部分損耗在IGBT內(nèi)部以熱的形式存在,從而將改變電力電子器件內(nèi)部的溫度分布。本文首先對IGBT模塊的封裝結(jié)構(gòu)和模塊內(nèi)部的熱傳遞過程進行分析,并概
3、述模塊熱阻的定義,在此基礎(chǔ)之上對IGBT模塊內(nèi)部占據(jù)主導(dǎo)地位的一維熱傳導(dǎo)過程進行了理論建模,接著推導(dǎo)工作結(jié)溫的計算方法。根據(jù)半導(dǎo)體物理理論的知識,歸納總結(jié)硅芯片參數(shù)的溫度效應(yīng),然后基于此從實驗和理論兩個角度對IGBT的溫度效應(yīng)進行分析,從而闡述IGBT結(jié)溫的變化是電、熱兩種物理場綜合作用的結(jié)果。
對IGBT器件的數(shù)學(xué)物理模型進行研究,采用了一種參數(shù)隔離實驗與經(jīng)驗公式相結(jié)合的簡便的模型參數(shù)提取方法,并利用提取到的特定型號IG
4、BT器件模型參數(shù)在Saber仿真軟件中對其瞬時結(jié)溫特性進行仿真模擬,從而在功率半導(dǎo)體器件物理模型的角度分析器件工作結(jié)溫的動態(tài)變化過程。
針對變換器系統(tǒng)級模型中,利用IGBT器件的數(shù)學(xué)物理模型仿真結(jié)溫存在仿真步長偏短、耗時嚴重、且易不收斂的問題,本文采用基于數(shù)學(xué)運算方法的損耗模型和描述模塊熱傳導(dǎo)過程的傳熱網(wǎng)絡(luò)模型相結(jié)合的方法來搭建基于系統(tǒng)級的IGBT模塊結(jié)溫預(yù)測模型,大大提升結(jié)溫仿真的速度,且模型考慮熱電耦合效應(yīng),可以更加準
5、確的模擬實際工況下IGBT模塊的結(jié)溫變化過程。
根據(jù)IGBT模塊工作過程當中,結(jié)溫峰值和穩(wěn)態(tài)波動值是影響其可靠性和壽命的最直接因素,本文利用在MATLAB/Simulink中搭建的三相逆變器系統(tǒng)的IGBT模塊結(jié)溫仿真模型,詳細討論分析不同負載工況和工作環(huán)境對IGBT模塊結(jié)溫峰值和穩(wěn)態(tài)波動值的影響,并針對風(fēng)力發(fā)電系統(tǒng)中變頻器的具體應(yīng)用,仿真模擬一段時間內(nèi)非平穩(wěn)工況下IGBT模塊結(jié)溫的波動情況,從而為IGBT模塊結(jié)溫的在線監(jiān)測
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