已閱讀1頁(yè)，還剩39頁(yè)未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀
版權(quán)說(shuō)明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請(qǐng)與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 鋁互連線遷移可靠性研究.pdf
- 超深亞微米工藝下互連線串?dāng)_及其影響研究.pdf
- 超深亞微米集成電路銅互連可靠性研究.pdf
- 超深亞微米銅互連的失效機(jī)理與可靠性研究.pdf
- 集成電路超細(xì)互連線電遷移可靠性研究.pdf
- 深亞微米工藝下耦合互連線的時(shí)延分析.pdf
- 超深亞微米CMOS器件ESD可靠性研究.pdf
- 超深亞微米集成電路互連線串?dāng)_估計(jì)及優(yōu)化.pdf
- 深亞微米互連線時(shí)延的緩沖插入優(yōu)化.pdf
- 金屬互連線的可靠性研究.pdf
- 超深亞微米CMOS器件GIDL電流及其可靠性研究.pdf
- 銅互連線電遷移可靠性研究及其壽命預(yù)測(cè).pdf
- 深亞微米工藝互連線時(shí)延串?dāng)_分析及優(yōu)化設(shè)計(jì).pdf
- 深亞微米工藝下互連線的時(shí)延估算和時(shí)鐘樹優(yōu)化.pdf
- 超深亞微米集成電路可靠性設(shè)計(jì)與建模方法.pdf
- VLSI中互連線的電熱應(yīng)力及可靠性的研究.pdf
- 硅通孔互連技術(shù)的可靠性研究.pdf
- 超深亞微米LDD MOSFET器件模型及熱載流子可靠性研究.pdf
- 深亞微米工藝下SoC互連線時(shí)延緩沖插入與優(yōu)化的研究.pdf
- 深亞微米SDEMOS器件結(jié)構(gòu)及可靠性研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論