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文檔簡介
1、隨著科技的發(fā)展,集成電路復(fù)雜度的不斷增加,基于IP核復(fù)用的SoC設(shè)計正逐漸成為集成電路設(shè)計的主流技術(shù)。IP軟核是IP核形式之一,它的靈活性高,在復(fù)雜IC設(shè)計中有很大優(yōu)勢。然而,IP軟核在工程應(yīng)用中,存在很多挑戰(zhàn)。使用高質(zhì)量的IP軟核,可以縮短驗證周期和提高設(shè)計質(zhì)量,反之,可能導(dǎo)致設(shè)計失敗。因此,對IP軟核進(jìn)行驗證,判斷IP軟核的質(zhì)量水平,為IP軟核選擇提供依據(jù)和便利,成為IC設(shè)計的一項重要任務(wù)。 本文研究IP軟核的驗證方法,應(yīng)用
2、傳統(tǒng)的動態(tài)功能驗證對UART進(jìn)行了驗證,研究了時序驗證方法,并舉例討論了這些方法各自的特點;另外,用基于斷言的System Verilog驗證方法,驗證了PCI協(xié)議的軟核,討論了System Verilog驗證方法的特點和在IP軟核驗證中的應(yīng)用;本文還對形式驗證等方法進(jìn)行討論,深入闡述了IP驗證的方法,總結(jié)了各自驗證的優(yōu)點和不足,提出IP軟核驗證在不同方法中的使用。 本文在對各種典型的驗證方法進(jìn)行理論研究的基礎(chǔ)上,還包含了大量的
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