基于嵌入式軟件的覆蓋測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、隨著嵌入式軟件的廣泛應(yīng)用,嵌入式軟件的結(jié)構(gòu)和開(kāi)發(fā)技術(shù)日新月異,相對(duì)于硬件的日益穩(wěn)定,軟件故障卻經(jīng)常出現(xiàn)。為了保證軟件的質(zhì)量,需要對(duì)軟件進(jìn)行測(cè)試。由于嵌入式軟件的自身特點(diǎn),例如實(shí)時(shí)性、內(nèi)存資源有限、開(kāi)發(fā)工具昂貴等,使得嵌入式軟件測(cè)試和普通軟件測(cè)試不同。
　　 為了節(jié)約系統(tǒng)資源,在測(cè)試中生成較少的測(cè)試用例,本文采用了基于全局支配圖的優(yōu)化算法,在建立局部支配圖的基礎(chǔ)上,采用基于程序的嵌套循環(huán)樹(shù)來(lái)優(yōu)化程序的控制流圖,經(jīng)過(guò)該優(yōu)化后,避免了

2、產(chǎn)生過(guò)多冗余的測(cè)試用例。同時(shí),該算法也可以用于減少程序的插裝位置。
　　 在大型軟件中,目錄下面的文件較多,一一進(jìn)行覆蓋比較繁雜,本文提出一種解決批量插裝的方法,首先讀取目錄下的文件,產(chǎn)生makefile文件,然后利用gnu系列的make工具進(jìn)行自動(dòng)插裝,從而解決了批量插裝的問(wèn)題。
　　 由于不能把所有的測(cè)試都放在目標(biāo)機(jī)上運(yùn)行,這樣會(huì)擠占有限的系統(tǒng)資源,這就需要交叉測(cè)試,本文采用開(kāi)源工具gcc以及gcov,進(jìn)行了測(cè)試環(huán)境