基于嵌入式核測(cè)試復(fù)用的數(shù)字SOC測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、隨著 SOC系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)模的日趨復(fù)雜,SOC的測(cè)試由于系統(tǒng)集成了多個(gè)不同的 IP核而變得愈加困難,已經(jīng)逐漸成為SOC發(fā)展的瓶頸。以核測(cè)試復(fù)用為目標(biāo)的測(cè)試策略是解決SOC測(cè)試問題的基礎(chǔ),因此研究SOC的嵌入式核測(cè)試復(fù)用技術(shù)及其測(cè)試系統(tǒng)具有重要的理論價(jià)值和實(shí)際意義。
　　本文在深入研究IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了嵌入式核測(cè)試復(fù)用的測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)。硬件系統(tǒng)圍繞產(chǎn)生P1500標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的控制信號(hào)的測(cè)試

2、控制器而展開,另外包括微機(jī)接口電路;軟件系統(tǒng)以測(cè)試矢量生成部分為核心展開,另外包括文本編譯模塊、底層驅(qū)動(dòng)模塊和故障診斷模塊。同時(shí)本文對(duì)IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)所定義的測(cè)試方法也進(jìn)行了較深入的探討和研究,此外還應(yīng)用該測(cè)試方法和所設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)對(duì)DEMO電路進(jìn)行了實(shí)際測(cè)試。
　　從仿真和實(shí)際測(cè)試的結(jié)果來看:測(cè)試方法正確;測(cè)試系統(tǒng)的軟硬件設(shè)計(jì)達(dá)到了預(yù)定的設(shè)計(jì)目標(biāo),各項(xiàng)指標(biāo)基本符合嵌入式核測(cè)試復(fù)用的各項(xiàng)要求。只要加以改進(jìn),就可以達(dá)到實(shí)用化