數(shù)字集成電路測(cè)試矢量輸入方法研究和軟件實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著數(shù)字集成電路芯片設(shè)計(jì)技術(shù)和制造工藝的提高，越來越多的電子產(chǎn)品向小型化、高度集中化發(fā)展。國內(nèi)外很多大的芯片制造廠商都致力于將芯片周邊電路的功能集中到電路中去，使得芯片的功能越來越強(qiáng)大，而產(chǎn)品體積卻越來越小，設(shè)計(jì)復(fù)雜度也越來越高[1]。但是，這也帶來了很多問題，芯片集中度越高，電子產(chǎn)品對(duì)芯片的可靠性要求越高，針對(duì)芯片，進(jìn)行功能測(cè)試的復(fù)雜度就越來越大。如何將越來越龐大的測(cè)試矢量輸入測(cè)試儀器并進(jìn)行功能測(cè)試也成為了亟待解決的問題。
　　

2、本文介紹了一款高精度、快速、低功耗、可擴(kuò)展的數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法，并重點(diǎn)介紹了芯片功能測(cè)試中測(cè)試矢量的輸入方法和軟件實(shí)現(xiàn)[2]。功能測(cè)試是數(shù)字集成電路測(cè)試儀的一大重要功能。軟件應(yīng)用者自己輸入測(cè)試矢量，然后將測(cè)試矢量格式化并下載以進(jìn)行測(cè)試，最后將測(cè)試結(jié)果反饋并存儲(chǔ)，通過與標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比，從而判定芯片的功能性是否正常。本軟件理論存儲(chǔ)測(cè)試矢量條數(shù)無限制，硬件存儲(chǔ)器系統(tǒng)存儲(chǔ)測(cè)試矢量深度可達(dá)2M，最高實(shí)現(xiàn)10M的測(cè)試頻率[3]。測(cè)試矢

3、量的輸入方法主要包括：直接輸入法，第三方軟件輸入法，標(biāo)準(zhǔn)文本描述語言輸入法。直接輸入法是在上位機(jī)軟件界面上按照引腳一個(gè)個(gè)的輸入對(duì)應(yīng)的測(cè)試矢量；第三方軟件波形解析法是利用QuartusⅡ等軟件輸入測(cè)試波形，然后開發(fā)解析程序，將波形信息轉(zhuǎn)化成可利用的測(cè)試矢量；標(biāo)準(zhǔn)文本格式輸入法指的是制定的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)文本格式，用于輸入測(cè)試矢量，然后根據(jù)設(shè)計(jì)的解析程序，將文本信息解析成格式化的測(cè)試矢量。幾種方法各有利弊，在應(yīng)用之時(shí)可以根據(jù)具體需求選擇應(yīng)用。軟件開