基于人工免疫-蟻群混合算法的VLSI布線研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、目前,以集成電路為核心的電子信息產(chǎn)業(yè)已經(jīng)超過了以汽車、石油、鋼鐵為代表的傳統(tǒng)工業(yè)成為第一大產(chǎn)業(yè),并成為改造和拉動傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)向數(shù)字時代邁進的強大引擎。集成電路技術(shù)在摩爾定律的引導下,逐步向提高集成度、降低功耗、增強性能的方向發(fā)展。相應(yīng)的系統(tǒng)規(guī)模的擴大,使得集成電路設(shè)計中的很多困難的問題凸顯出來。此外,集成電路本身的物理設(shè)計能力也一直落后于工藝制造能力,因此造成了這樣的局面:現(xiàn)有的EDA工具難以應(yīng)付復雜度呈指數(shù)增長的諸多VLSI物理設(shè)計難題,

2、也缺乏對超深亞微米工藝下一系列新問題的考慮。 同時,在計算智能領(lǐng)域,各州優(yōu)化技術(shù)的蓬勃發(fā)展,為解決NP復雜度的問題提供了方法和啟示。本文就是在這樣的背景下,研究計算智能方法在超深亞微米工藝下性能驅(qū)動VLSI生產(chǎn)工序中關(guān)鍵環(huán)節(jié)——物理設(shè)計中的應(yīng)用。本文首先介紹了VLSI布線過程的幾種方法,就物理設(shè)計中BBL模式下典型的兩端繞障礙布線問題,提出了一種基于路徑圖的布線模型。之后,介紹了如何采用蟻群算法對路徑圖模式實施布線。接著討論了如

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