包覆藥柱激光全息檢測(cè)缺陷模式識(shí)別研究.pdf_第1頁(yè)
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1、激光全息無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是藥柱包覆層粘接質(zhì)量最有效的檢測(cè)方法,也是目前唯一作為包覆藥柱檢測(cè)國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的檢測(cè)方法。激光全息干涉計(jì)量技術(shù)具有靈敏度高、無(wú)損檢測(cè)、檢測(cè)速度快、不用接觸零件表面、不需要耦合劑等優(yōu)點(diǎn)。但是,一直以來(lái),激光全息檢測(cè)只能作為定性的缺陷檢查方法,不能對(duì)缺陷的大小作出定量化的分析,無(wú)法滿足包覆藥柱質(zhì)量檢測(cè)的定量分析要求。 本文就藥柱包覆層粘結(jié)質(zhì)量進(jìn)行了激光全息檢測(cè),并且結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)對(duì)缺陷進(jìn)行了識(shí)別研究,實(shí)

2、現(xiàn)了全息檢測(cè)的初步定量分析。 首先,利用激光全息檢測(cè)二次曝光法,對(duì)影響激光全息檢測(cè)的因素進(jìn)行了深入研究,尤其對(duì)全息光路系統(tǒng)穩(wěn)定性、物光與參考光光強(qiáng)比、光程差、壓差等因素分別設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn),優(yōu)化了實(shí)驗(yàn)條件,得到了清晰的全息圖譜。 然后,利用數(shù)字圖像處理技術(shù),對(duì)全息圖像進(jìn)行了缺陷的識(shí)別研究。主要工作包括:全息圖像的預(yù)處理工作、條紋跟蹤、導(dǎo)數(shù)法進(jìn)行缺陷的特征提取和缺陷位置大小信息的量化處理。作者首次提出了,利用導(dǎo)數(shù)法實(shí)現(xiàn)缺陷條紋的特

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