2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、微電子技術(shù)是當今發(fā)展最快的技術(shù)領域之一。隨著集成電路設計及工藝技術(shù)的發(fā)展,電路的規(guī)模和復雜度日益增大,芯片故障的測試同趨困難,對電路的測試也提出了更高的要求,從而推動了測試生成算法的研究。傳統(tǒng)的測試生成算法已不能滿足要求,因此集成電路測試研究的重點主要集中于研究新的更加有效的測試生成算法和電路可測性設計技術(shù)。 本論文主要研究數(shù)字集成電路中組合電路的多故障測試生成算法和可測性設計技術(shù),以提高算法的故障覆蓋率、減少測試生成時間及減少

2、測試矢量的產(chǎn)生和施加為研究目標,主要研究了以下內(nèi)容: 在深入研究了二值神經(jīng)網(wǎng)絡模型基礎上,建立了三值神經(jīng)網(wǎng)絡模型,并將三值神經(jīng)網(wǎng)絡成功應用于組合電路測試生成算法中。通過構(gòu)建被測電路的約束網(wǎng)絡,采用遺傳算法并使用本文提出的適應度函數(shù),求出約束網(wǎng)絡對應能量函數(shù)的最小值點。通過編程仿真,在基準電路上得到故障的測試矢量。給出了三值模型與二值模型測試的比較結(jié)果。用三值神經(jīng)網(wǎng)絡表示數(shù)字電路,可以減小搜索空間,避免很多不必要的賦值,因此可以在

3、保證具有較高故障覆蓋率的情況下,減少測試生成時間,提高算法的測試生成效率。 研究了基于布爾差分的組合電路測試生成算法。針對布爾差分算法需要進行大量的異或運算,特別是求解多故障測試矢量時,求解高階布爾差分更加繁瑣的問題,提出了將組合電路多故障轉(zhuǎn)換成單固定故障或雙固定故障后,采用具有約束條件的一階、二階布爾差分簡化法的方法,可不用異或運算,而是通過求解恒等式及約束條件來得到完全測試集,避免了大量的布爾差分運算。 在 EST(

4、equivalent state hashing)算法的基礎上,利用 E-前沿的控制關(guān)系,對基于搜索狀態(tài)控制的組合電路測試生成算法進行了研究,通過實例證明了該算法可以更有效的減小搜索空間;通過仿真驗證了所求測試矢量的正確性。 癥候群測試不需要產(chǎn)生測試矢量,因此對電路的癥候群測試進行了深入研究。針對傳統(tǒng)的癥候群可測性判定條件需要寫出電路的邏輯表達式,對于大規(guī)模集成電路,按照傳統(tǒng)的方式很難進行判斷,本文推導出了一元癥候群和二元癥候群

5、可測性判定條件的新形式,并由此推出了多元癥候群的判定條件。利用該判定條件,既可直接進行多元癥候群判定,不必寫出電路的邏輯表達式,又可保證癥候群可測。研究了基于 Reed-Muller 模式的組合電路的可測性。針對組合電路產(chǎn)生測試矢量開銷大的問題,對 Reed-Muller 模式的組合電路進行了研究。該方法采用通用型測試集測試的電路結(jié)構(gòu)或模塊進行電路設計。用此種方法不但可以方便的檢測出電路的單固定型故障,而且可以確定單故障的具體位置,對于

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