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文檔簡介
1、集成電路規(guī)模的快速增長使得驗證的難度越來越大,傳統(tǒng)的模擬和仿真不但需要花費大量的時間,而且不能保證完全的驗證覆蓋率,已經(jīng)不能滿足現(xiàn)時集成電路設(shè)計的要求。形式驗證利用數(shù)學的方法隱式遍歷所有可能的情況,能保證完全的驗證覆蓋率,所需要的驗證時間也大幅減少,是克服驗證瓶頸的可行途徑。等價性驗證作為一種實用化的形式驗證方法,常被用于綜合后和人工修改后電路的功能驗證,本論文圍繞等價性驗證在以下三個方面展開了有價值的研究: 1.在驗證組合電路
2、的等價性時,直接構(gòu)建原始輸出的BDD并進行比較的方法已經(jīng)不再適用,需要發(fā)掘出兩個待驗證電路中等價的內(nèi)部結(jié)點,利用這些結(jié)點組成割集,將原有的驗證問題分割成一系列小而簡單的子問題。針對割集在組合等價性驗證中的運用,本文創(chuàng)新性地提出了結(jié)合通用割集和專用割集的驗證方法,針對由割集引起的誤判,本文提出了一種注重消除高層次結(jié)點間依賴關(guān)系的處理策略?;贗SCAS85電路的實驗結(jié)果表明本文中的方法可以有效加快組合電路的等價性驗證。 2.在驗證
3、時序電路的等價性時,常需要通過前時間幀計算(pre-image computation)判斷某個狀態(tài)是否由初始狀態(tài)可達,它占用了全部驗證時間中的很大一部分,針對這種情況,本文創(chuàng)新性地提出了一種利用狀態(tài)緩存的時序驗證方法,將模擬過程中到達的狀態(tài)緩存為可達狀態(tài),同時緩存驗證過程中被確認為不可達的狀態(tài),利用它們避免重復的前時間幀計算,基于MCNC91的實驗結(jié)果表明了本方法的有效性。 3.可滿足性問題是近十多年來的一個研究熱點,它已經(jīng)超
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