基于SPM系統(tǒng)的雙探針實(shí)驗(yàn)研究.pdf

1、納米科技是二十世紀(jì)90年代發(fā)展起來的一門新興學(xué)科。掃描探針顯微鏡(SPM)是納米科學(xué)研究的重要工具。納米技術(shù)的飛速發(fā)展，帶動了其測量工具SPM的不斷發(fā)展和創(chuàng)新；同時，SPM的不斷創(chuàng)新也促進(jìn)了納米科技的研究與發(fā)展。 本文在研究和探討SPM的相關(guān)技術(shù)的基礎(chǔ)上，從一種新的角度對雙探針掃描隧道顯微鏡(DP-STM)進(jìn)行了研究，并取得了一定的成果。 全文主要分為以下三個方面： 第一，理論上探討了掃描探針顯微鏡技術(shù)的基本原理

2、和工作方式，探討了STM和以AFM為基礎(chǔ)的SFM的基本理論，在此基礎(chǔ)上，分析了現(xiàn)有的一些雙探針SPM技術(shù)的原理和特點(diǎn)。 第二，從理論上分析了STM探針對掃描圖像質(zhì)量的影響，并從公式上對這一影響進(jìn)行了分析與說明，進(jìn)而導(dǎo)出通過對掃描隧道譜(STS)中的I(Z)譜的測量與分析可以對針尖的整體質(zhì)量進(jìn)行判斷的結(jié)論，從而提高了對STM探針的使用效率，最后在實(shí)驗(yàn)上驗(yàn)證了這一方法，并得到了判斷針尖質(zhì)量好壞的I(Z)譜的具體判斷標(biāo)準(zhǔn)，為雙探針ST