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1、本文敘述了一種名為故障模擬法的大規(guī)模集成電路的測(cè)試程序的編制、生成方法，這種方法主要是解決了隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展，單個(gè)電路本身的輸入／輸出管腳數(shù)量不斷增加，帶來(lái)測(cè)試矢量呈現(xiàn)指數(shù)增長(zhǎng)，從測(cè)試時(shí)間和測(cè)試成本上考慮，使用傳統(tǒng)的窮舉法已經(jīng)不可能編制、生成出符合要求的大規(guī)模集成電路測(cè)試程序的問(wèn)題。與傳統(tǒng)的窮舉法相比，在不降低測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性的同時(shí)，使編制程序所需要的測(cè)試矢量控制在可以接受的水平上。 在實(shí)際工作方法方面，本文從理
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