遺傳基因算法在SOC驗證平臺上的應用及改進.pdf

1、隨著集成電路制造工藝不斷進步，片上系統(tǒng)的集成度不斷提高，設計流程的瓶頸在于怎樣保證RTL(register transfer level)描述和specification功能定義一致?，F(xiàn)階段功能驗證占據(jù)了整個設計時間的50％～80％，根據(jù)ITRS的預計在接下來的幾年內，集成電路設計面臨的巨大挑戰(zhàn)是增強驗證能力。由于目前驗證方法需要人工分析覆蓋率信息并以此開發(fā)針對性更強的驗證向量，所以存在驗證效率低以及能達到的覆蓋率低等問題。因此需要研究

2、一種用人工智能算法自動生成驗證向量的方法，來提高驗證效率和保證驗證的完備性。
　　 目前生命科學和工程科學的相互交叉，相互滲透和相互促進是近代科學技術發(fā)展的一個顯著特點，而遺傳基因算法的蓬勃發(fā)展正體現(xiàn)了科學發(fā)展的這一特征和趨勢。論文提出了一種基于遺傳基因算法和覆蓋率驅動技術的RTL代碼功能驗證向量自動生成算法。其特點是利用遺傳基因算法動態(tài)分析反饋的功能覆蓋率信息，并通過初始化向量群，計算適應度，選擇，交叉，變異等遺傳操作自動生成

3、針對性更強的驗證向量，如此自動反復循環(huán)，直到達到目標覆蓋率為止。
　　 論文針對驗證平臺的特點對初始化群體的規(guī)模，自適應函數(shù)的設計，定標準則和懲罰機制，以及選擇，交叉，變異這三個遺傳算子的操作流程和概率分配等設計進行了詳細介紹，并提出相應的改進思路。最后在Synopsys公司提供的VCS仿真環(huán)境中用Open Vera語言搭建C3220_USB驗證平臺，并嵌入了用Open Vera語言實現(xiàn)的遺傳基因算法的核心程序，對USB1.1模