自適應(yīng)數(shù)字散斑相關(guān)方法與銅箔材料斷裂中的尺寸效應(yīng)研究.pdf

1、該文將改進(jìn)數(shù)字散斑相關(guān)實(shí)驗(yàn)方法中的相關(guān)搜索技術(shù)以及低維材料斷裂中的尺寸效應(yīng)研究作為兩個(gè)主要研究?jī)?nèi)容.在目前的研究中,提高數(shù)字散斑相關(guān)方法的收斂速度和結(jié)果的精度是該方法的發(fā)展方向.該文將基于自然選擇原理的遺傳算法引入到數(shù)字散斑相關(guān)方法中,提出了一種自適應(yīng)數(shù)字散斑相關(guān)搜索方法.該方法在迭代過程中不需求解相關(guān)函數(shù)的一階和二階偏導(dǎo)數(shù),直接利用目標(biāo)函數(shù)值作為迭代的依據(jù),在減小計(jì)算量、提高收斂速度的同時(shí)兼顧了結(jié)果精度的提高.同時(shí),在相關(guān)原理的基礎(chǔ)上

2、,發(fā)展了一種數(shù)字標(biāo)記點(diǎn)的識(shí)別技術(shù).該技術(shù)可以較好的應(yīng)用于較大變形范圍的測(cè)量,有效地解決了金屬以及非金屬類薄膜、細(xì)絲等低維材料應(yīng)變的測(cè)量問題.然后,對(duì)尼龍6薄膜材料及碳纖維細(xì)絲材料的基本力學(xué)性能進(jìn)行了較為詳細(xì)的實(shí)驗(yàn)研究.該文還研究了銅箔材料的基本力學(xué)性能和應(yīng)力應(yīng)變關(guān)系.用數(shù)字散斑相關(guān)方法對(duì)金屬薄箔材料裂紋尖端區(qū)域的變形場(chǎng)進(jìn)行了測(cè)量.采用雙CCD光路系統(tǒng),給出了用數(shù)字散斑相關(guān)方法測(cè)量斷裂韌性的技術(shù).為了對(duì)低維材料斷裂中的尺寸效應(yīng)問題進(jìn)行研究

3、,該文采用數(shù)字散斑相關(guān)方法對(duì)不同厚度銅箔材料(該論文中的厚度范圍是0.023mm~1mm)的斷裂韌性進(jìn)行了系統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)研究,定量地給出了斷裂韌性JC隨試件厚度B變化的曲線.結(jié)合掃描電鏡的斷口實(shí)驗(yàn)和金相顯微鏡的晶粒和顯微組織實(shí)驗(yàn)全面地分析了不同厚度銅箔試件的斷裂機(jī)理,從幾個(gè)不同的方面詳細(xì)分析了影響斷裂韌性的因素.特別是從實(shí)驗(yàn)的角度研究了晶粒尺寸在銅箔材料斷裂韌性的尺寸效應(yīng)中的影響.該文還對(duì)比分析了銅箔材料各向性對(duì)斷裂韌性的影響,給出了相應(yīng)的