一種基于ARM系統(tǒng)的多頻耳聲導(dǎo)抗測(cè)試系統(tǒng)的研究.pdf

1、耳聲導(dǎo)抗測(cè)量技術(shù)是近年來(lái)發(fā)展起來(lái)的一種中耳功能檢測(cè)的客觀方法。其在臨床耳科和聽(tīng)力學(xué)科診斷方面的重要地位已得到臨床醫(yī)生的公認(rèn)，已成為提高耳疾診斷正確率的一種先進(jìn)手段<'[1]>。目前臨床上普遍采用的耳聲導(dǎo)抗測(cè)試大多限于低頻、單成分，主要鑒別以勁度聲納改變?yōu)橹鞯闹卸∽?，但?duì)以質(zhì)量聲納改變?yōu)橹鞯闹卸∽冭b別效果不明顯。 本文研制了一種基于ARM系統(tǒng)的多頻耳聲導(dǎo)抗測(cè)試系統(tǒng)，在以勁度聲納和質(zhì)量聲納改變?yōu)橹鞯闹卸∽兌加泻芎玫蔫b別效果。

2、 本系統(tǒng)設(shè)計(jì)了多頻耳聲導(dǎo)抗測(cè)試電路，利用FPGA設(shè)計(jì)直接數(shù)字頻率合成器(DDS)可以發(fā)射多個(gè)頻率的探測(cè)音，低頻探測(cè)音主要鑒別以勁度聲納改變?yōu)橹鞯闹卸∽?，高頻探測(cè)音對(duì)以質(zhì)量聲納改變?yōu)橹鞯闹卸∽兏鼮槊舾?。為了探討相位角在不同耳聲?dǎo)抗測(cè)量過(guò)程中的變化規(guī)律與耳病變之間所存在的關(guān)系，本論文設(shè)計(jì)了相位角鼓室圖的檢測(cè)電路，并對(duì)正常耳與傳導(dǎo)鏈病變耳之間進(jìn)行了相位角鼓室圖的測(cè)量與研究。在多頻耳聲導(dǎo)抗測(cè)試控制系統(tǒng)上，采用了ARM處理器，由于ARM