耐大豆疫霉根腐病QTL定位的研究.pdf

1、分子輔助育種是越來越實用的一種育種技術(shù)，在育種實踐過程中利用分子標記對重要農(nóng)藝性狀進行輔助選擇，能夠有效提高育種效率。關(guān)于大豆疫霉根腐病質(zhì)量抗病基因的遺傳定位研究已有大量的報導，但定位耐大豆疫霉根腐病數(shù)量性狀遺傳位點(QTLs)的研究卻鮮見報導。鑒于近年來大豆疫霉根腐病數(shù)量性狀抗性育種在世界各國得到高度重視，本研究的目的是定位與耐大豆疫霉根腐病相關(guān)的QTLs，用來指導大豆疫霉根腐病抗病育種工作。該研究以感病品系OX760和耐病品種Con

2、rad及二者雜交所衍生的62個F2：6重組自交系為材料，調(diào)查兩個地點和兩個年份的疫霉根腐病病害損失率；利用1200條RAPD引物和341對SSR引物對耐大豆疫霉根腐病進行基因定位。在1200條RAPD引物中，清晰可重復的多態(tài)性標記為39個，占3.25％；在341對SSR引物中，清晰可重復的多態(tài)性標記為45個，占13.2％。　　本研究利用Mapmaker/EXP3.0b構(gòu)建了大豆分子遺傳連鎖圖譜，SSR和RAPD分子標記覆蓋基因組的總長

3、約3000cM。分子標記間的平均距離為29.7cM。分子標記主要集中在MLGF、MLGN、MLGD1b+w、MLGM四條染色體組上，這四條染色體上共有36個分子標記，占總標記數(shù)35.6％。其中標記最密集的兩條染色體是MLGF和MLGM，各有10個標記。　　本研究采用WinQTLCart(V2.0)軟件進行QTL分析，LOD值大于2.0作為QTL存在的閾值，共發(fā)現(xiàn)分屬于MLGD1b+W和MLGM連鎖群的4個與耐大豆疫霉根腐病顯著相關(guān)的分

4、子標記，即：OPL18-800bp、OPN03-600bp，Satt536和Satt463。其對病害損失率的貢獻率為13.34％到22.31％。與4個分子標記相對應(yīng)的共有3個QTL位點，即：QPRR-1(QOPL18-800bp)，QPRR-2(QOPN03-600bp)和QPRR-3(QSatt536-Satt463)。其中QPRR-1和QPRR-2經(jīng)多重QTL計算，對兩年(2000年和2001年)和兩點(Woodslee和Weave

5、r)平均總病害損失率的貢獻率為44.5％，而QPRR-3對2001年Woodslee試驗點病害損失率的貢獻率為15.2％。QPRR-1對2000年Woodslee試驗點的病害損失率貢獻率為21.55％，對2000年Wever試驗點的病害損失率貢獻率為16.71％，對兩年(2000年和2001年)及兩點(Woodslee和Weaver)平均總病害損失率的貢獻率為22.31％。本試驗發(fā)現(xiàn)數(shù)個在大多數(shù)生態(tài)環(huán)境條件下能重復出現(xiàn)的QTLs，可以作