地質(zhì)工作方法

1、1地質(zhì)測(cè)量和地質(zhì)剖面測(cè)量地質(zhì)測(cè)量和地質(zhì)剖面測(cè)量1.11.1地質(zhì)測(cè)量、地質(zhì)草測(cè)和地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)的基本概念地質(zhì)測(cè)量、地質(zhì)草測(cè)和地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)的基本概念1.1.11.1.1地質(zhì)測(cè)量地質(zhì)測(cè)量一般所說(shuō)的地質(zhì)測(cè)量是指“正規(guī)的”或“正式的”地質(zhì)測(cè)量，是一種在填圖單位、上圖地質(zhì)體的尺度、觀察密度、地質(zhì)點(diǎn)定位精度、地形底圖均符合以下2.4條要求的地質(zhì)測(cè)量?！罢降摹钡刭|(zhì)測(cè)量用于已有較明晰資源前景的普查區(qū)和詳查、勘探礦區(qū)。1.1.21.1.2地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)是

2、對(duì)測(cè)區(qū)內(nèi)不同地質(zhì)體、地質(zhì)界線測(cè)量要求有所區(qū)別的地質(zhì)測(cè)量。對(duì)被認(rèn)為是重要的地質(zhì)體和地質(zhì)界線，觀察點(diǎn)的密度和定位精度要求同“正式的”地質(zhì)測(cè)量。對(duì)被認(rèn)為是不重要的地質(zhì)單元可以歸并，觀察點(diǎn)的密度可適當(dāng)放稀，地質(zhì)點(diǎn)用手持GPS或半儀器法定位。地質(zhì)簡(jiǎn)測(cè)用于預(yù)查和普查階段。。1.1.31.1.3地質(zhì)草測(cè)地質(zhì)草測(cè)地質(zhì)草測(cè)在填圖單位和上圖地質(zhì)體的尺度要求上與“正式的”地質(zhì)測(cè)量相同，但在地形底圖、觀察密度和或一般地質(zhì)點(diǎn)定位精度上可適當(dāng)放寬的地質(zhì)測(cè)量。地質(zhì)草

3、測(cè)用于資源前景尚不明晰的預(yù)查區(qū)和普查區(qū)。地質(zhì)草測(cè)時(shí)可以：（1）地質(zhì)觀測(cè)點(diǎn)的密度在正規(guī)地質(zhì)測(cè)量所要求標(biāo)準(zhǔn)的0.51倍間。（2）大于1：1萬(wàn)比例尺地質(zhì)測(cè)量的地質(zhì)點(diǎn)是用手持GPS或半儀器（地質(zhì)羅盤(pán)、測(cè)繩等）法定位，但礦體邊界等重要地質(zhì)界線除外。（3）地質(zhì)測(cè)量所使用的地形底圖是比地質(zhì)測(cè)量比例尺小1倍左右的地形圖放大后經(jīng)計(jì)算機(jī)數(shù)字化處理制作的同地質(zhì)測(cè)量比例尺的地形圖1.21.2地質(zhì)測(cè)量的比例尺地質(zhì)測(cè)量的比例尺（1）屬于區(qū)域地質(zhì)調(diào)查的地質(zhì)測(cè)量目前使

4、用的比例尺主要是1：5萬(wàn)的和1：25萬(wàn)的。以往的測(cè)量成果中還有1：20萬(wàn)、1：50萬(wàn)和1：100萬(wàn)的。（2）在礦產(chǎn)地質(zhì)勘查中，地質(zhì)測(cè)量的比例尺選擇要考慮勘查階段、研究程度、工作區(qū)大小、礦床規(guī)模等眾多因素，一般：預(yù)查階段：1：5萬(wàn)1：5000；普查階段1：2.5萬(wàn)1：2000；詳查階段1：1萬(wàn)1：2000；勘探階段1：50001：500。1.31.3地質(zhì)測(cè)量方法地質(zhì)測(cè)量方法（1）穿越（地質(zhì)界線）法。（2）追索（地質(zhì)界線）法。（3）全面法，

5、即（1）、（2）兩法結(jié)合使用。地質(zhì)測(cè)量方法依據(jù)測(cè)量比例尺、地質(zhì)界線分布特征、地形條件等因素選擇。1.41.4地質(zhì)測(cè)量的技術(shù)要求地質(zhì)測(cè)量的技術(shù)要求1.4.11.4.1填圖單元填圖單元應(yīng)根據(jù)測(cè)量比例尺、控礦地質(zhì)因素、礦區(qū)各地質(zhì)單元的分布情況和勘查要求合理確定地質(zhì)填圖單元。填圖單元包括：（1）地層單元或巖性。（2）不同期、次的巖漿巖種類(lèi)、巖漿巖相。（3）地質(zhì)構(gòu)造形跡，包括褶皺軸跡、斷層、破碎帶、韌性剪切帶等。（4）蝕變帶、礦化帶、礦體等。表1

6、3地質(zhì)觀察點(diǎn)點(diǎn)位充許最大誤差(m)比例尺地質(zhì)體1:100001:10000草圖1:50001:20001:2000草圖1:1000一般地質(zhì)體10202030510244612礦體51010202.5512240.51（2）實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面應(yīng)有充分的代表性，能基本反映測(cè)區(qū)內(nèi)的地層、巖石、構(gòu)造類(lèi)型和它們之間的穿插關(guān)系。剖面應(yīng)：垂直或大致垂直測(cè)區(qū)地層、主構(gòu)造行跡走向；橫穿測(cè)區(qū)內(nèi)所有地層單元、主要構(gòu)造行跡和主要侵入巖體。一條不夠，可作兩條或多條；直

7、線不行，可以折線。（3）實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面用半儀器法測(cè)制。比例尺不小于地質(zhì)測(cè)量比例尺，圖上寬1mm及以上的地質(zhì)體必須上圖，具特殊意義的地質(zhì)體須放大表示。（4）測(cè)制剖面時(shí)要填寫(xiě)實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面記錄表（表35），做好地質(zhì)點(diǎn)描述，采集巖礦鑒定標(biāo)本分析樣品并做好采樣登記。（5）繪制實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面圖并附簡(jiǎn)短文字說(shuō)明包括實(shí)測(cè)地質(zhì)剖面工作概況及地質(zhì)概況。1.4.61.4.6對(duì)地形底圖的要求（1）須是正式出版的或經(jīng)隊(duì)級(jí)以上單位驗(yàn)收合格的。（2）正規(guī)測(cè)量的地形底圖的

8、比例尺一般應(yīng)與地質(zhì)測(cè)量比例尺相同。（3）使用放大的小于地質(zhì)測(cè)量比例尺的地形圖進(jìn)行地質(zhì)草測(cè)時(shí)，須經(jīng)業(yè)主批準(zhǔn)并在設(shè)計(jì)書(shū)（合同書(shū)）中寫(xiě)明。（4）對(duì)于時(shí)間久遠(yuǎn)的以往地形圖，應(yīng)根據(jù)地形變化情況確定是直接使用、修測(cè)后使用或放棄不用。1.4.71.4.7操作要求操作要求（1）應(yīng)用紅油漆在巖石上實(shí)地標(biāo)注地質(zhì)觀察點(diǎn)點(diǎn)位和編號(hào)。（2）地質(zhì)測(cè)量工作不僅僅是勾畫(huà)地質(zhì)界線，更重要的是基礎(chǔ)地質(zhì)研究和找礦。通過(guò)地質(zhì)測(cè)量應(yīng)不同程度地查明：測(cè)區(qū)地層、構(gòu)造、巖漿巖、變質(zhì)作

9、用特征；成礦地質(zhì)條件和控礦因素；礦體、礦化帶的分布規(guī)律和找礦標(biāo)志。要特別注意多量取地質(zhì)面的產(chǎn)狀；特別注意研究不同地質(zhì)體接觸關(guān)系、接觸面的地質(zhì)特征、接觸面附近巖石礦物組成和構(gòu)造的變化。（3）實(shí)地勾繪地質(zhì)界線，注意地質(zhì)界線平面形態(tài)的“V”字形規(guī)則（V字形法則：巖層傾向與地形坡向相反，巖層界線與地形等高線V字形彎曲方向相同，但巖層界線比地形等高線的V字形彎曲程度小相反相同；巖層傾向與地形坡向相同，巖層傾角比坡角小，巖層界線與地形等高線的V字形