基于廣義似然比的泊松過程變點(diǎn)識(shí)別.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、統(tǒng)計(jì)過程控制作為質(zhì)量管理領(lǐng)域的重要工具,在過程控制中發(fā)揮著越來越重要的角色,經(jīng)過過去幾十年的發(fā)展,其理論研究體系已經(jīng)到達(dá)了一個(gè)新的高度。從變點(diǎn)問題提出到現(xiàn)在,越來越多的學(xué)者對(duì)各種各樣的變點(diǎn)類型進(jìn)行了研究,已經(jīng)提出很多變點(diǎn)識(shí)別的有效方法,但是這些變點(diǎn)識(shí)別的研究大多是基于正態(tài)分布假設(shè)的,對(duì)于Poisson分布下的變點(diǎn)識(shí)別,卻很少有人涉及,且對(duì)于變點(diǎn)識(shí)別的精度和技術(shù)層面還有待進(jìn)一步提高。本文提出了一種基于廣義似然比(General Likel

2、ihood Ratio.GLR)的Poisson過程變點(diǎn)識(shí)別方法,該方法是GLR在正態(tài)分布假設(shè)下的拓展,在檢測精度上效果也非常顯著。首先,先對(duì)本文將要用到的理論背景做了介紹,在第三章我們?cè)敿?xì)的介紹了GLR變點(diǎn)識(shí)別模型的建立過程,包括初始參數(shù)已知和未知,過程中變點(diǎn)個(gè)數(shù)為一個(gè)和兩個(gè)共四種情況,最后還提出了多變點(diǎn)識(shí)別模型,第四章本文利用Matlab軟件進(jìn)行仿真實(shí)驗(yàn),給出了本文提出的Poisson過程變點(diǎn)識(shí)別模型對(duì)于變點(diǎn)識(shí)別的性能和可靠度,本文

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